期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
基于LS空间的IC真实缺陷图像的分割
被引量：
3
1
作者
王俊平
郝跃
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第5期954-956,共3页
在对集成电路(IC)真实缺陷进行分类与识别时,IC缺陷图像分割是非常重要的一步.本文提出一种新的IC缺陷图像分割方法.该方法首先将IC缺陷图像由RGB空间转换到HLS空间,然后根据IC缺陷图像背景像素的L及S值的分布,设计LS空间上的分段线...
在对集成电路(IC)真实缺陷进行分类与识别时,IC缺陷图像分割是非常重要的一步.本文提出一种新的IC缺陷图像分割方法.该方法首先将IC缺陷图像由RGB空间转换到HLS空间,然后根据IC缺陷图像背景像素的L及S值的分布,设计LS空间上的分段线性判别函数及聚类准则,最后由聚类准则完成IC真实缺陷图像的分割.实验结果表明,本文方法不仅可分割背景一致的IC图像,而且对背景不一致的图像也可获得满意的分割效果.从而为真实缺陷的分类与识别奠定了可靠基础.
展开更多
关键词
真实缺陷
图像分割
明度
饱和度
LS空间聚类
分段线性判别函数
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
基于LS空间的IC真实缺陷图像的分割
被引量：
3
1
作者
王俊平
郝跃
机构
西安电子科技大学微电子研究所
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第5期954-956,共3页
基金
国家863高科技计划支持研究(No.2003AA1Z1630)
北京大学信息处理国家重点实验室开放课题基金(No.J62103010026)
文摘
在对集成电路(IC)真实缺陷进行分类与识别时,IC缺陷图像分割是非常重要的一步.本文提出一种新的IC缺陷图像分割方法.该方法首先将IC缺陷图像由RGB空间转换到HLS空间,然后根据IC缺陷图像背景像素的L及S值的分布,设计LS空间上的分段线性判别函数及聚类准则,最后由聚类准则完成IC真实缺陷图像的分割.实验结果表明,本文方法不仅可分割背景一致的IC图像,而且对背景不一致的图像也可获得满意的分割效果.从而为真实缺陷的分类与识别奠定了可靠基础.
关键词
真实缺陷
图像分割
明度
饱和度
LS空间聚类
分段线性判别函数
Keywords
Classification (of information)
Color image processing
Defects
Functions
Image segmentation
Mathematical models
Object recognition
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于LS空间的IC真实缺陷图像的分割
王俊平
郝跃
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
