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题名基于有效背景重构和对比度增强的Mura缺陷检测
被引量：6
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作者
胡亮
胡学娟
黄圳鸿
徐露
胡凯
张家铭
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机构
深圳技术大学中德智能制造学院
广东省先进光学精密制造重点实验室
广东省微纳光机电工程重点实验室
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出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2021年第10期1395-1402,共8页
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基金
广东省普通高校特色创新类项目(No.2021KTSCX111)
深圳市坪山区科技创新专项(No.PSKG202006)
深圳技术大学2021年自制实验仪器设备项目(No.2021015777701059)。
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文摘
提出一种基于有效背景重构和对比度增强的Mura缺陷检测方法。首先,提出了一种新的基于缺陷区域预剔除的背景重构方法,能够有效地重构背景图像,消除图像亮度不均等干扰。然后,引入了基于Otsu的双γ分段指数变换法对差分图像进行增强处理,能够有效解决背景残余问题且极大增强了Mura区域的对比度和轮廓度。最后,直接运用动态阈值分割方法,可以快速准确地将Mura缺陷分离出来。实验结果表明,与传统的多项式曲面拟合方法以及离散余弦变换法相比,本文方法对各种类型的Mura缺陷检测效果稳定,且检出率和无误报率均达到了97%以上。
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关键词
TFT-LCD
Mura缺陷检测
背景重构
分段指数变换
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Keywords
TFT-LCD
Mura defect detection
background reconstruction
piecewise exponential transform
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分类号
TN141.9
[电子电信—物理电子学]
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