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测试集问题的集合覆盖贪心算法的深入近似
被引量：
6
1
作者
崔鹏
刘红静
《软件学报》
EI
CSCD
北大核心
2006年第7期1494-1500,共7页
测试集问题是一个有着广泛应用的NP难问题.集合覆盖贪心算法是测试集问题的一个常用近似算法,其由集合覆盖问题得到的近似比2lnn+1能否改进是一个公开的问题.集合覆盖贪心算法的推广被用来求解生物信息学中出现的冗余测试集问题.通过分...
测试集问题是一个有着广泛应用的NP难问题.集合覆盖贪心算法是测试集问题的一个常用近似算法,其由集合覆盖问题得到的近似比2lnn+1能否改进是一个公开的问题.集合覆盖贪心算法的推广被用来求解生物信息学中出现的冗余测试集问题.通过分析条目对被区分次数的分布情况,用去随机方法证明了集合覆盖贪心算法对测试集问题的近似比可以为1.5lnn+0.5lnlnn+2,从而缩小了这种算法近似比分析的间隙.另外,给出了集合覆盖贪心算法对冗余度为n1的加权冗余测试集问题的近似比的紧密下界(2o(1))lnn(1).
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关键词
测试
集
问题
集
合覆盖贪心算法
去随机方法
冗余测试集问题
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职称材料
题名
测试集问题的集合覆盖贪心算法的深入近似
被引量：
6
1
作者
崔鹏
刘红静
机构
中国人民大学信息资源管理学院
保定市财贸学校
出处
《软件学报》
EI
CSCD
北大核心
2006年第7期1494-1500,共7页
文摘
测试集问题是一个有着广泛应用的NP难问题.集合覆盖贪心算法是测试集问题的一个常用近似算法,其由集合覆盖问题得到的近似比2lnn+1能否改进是一个公开的问题.集合覆盖贪心算法的推广被用来求解生物信息学中出现的冗余测试集问题.通过分析条目对被区分次数的分布情况,用去随机方法证明了集合覆盖贪心算法对测试集问题的近似比可以为1.5lnn+0.5lnlnn+2,从而缩小了这种算法近似比分析的间隙.另外,给出了集合覆盖贪心算法对冗余度为n1的加权冗余测试集问题的近似比的紧密下界(2o(1))lnn(1).
关键词
测试
集
问题
集
合覆盖贪心算法
去随机方法
冗余测试集问题
Keywords
test set
set cover greedy algorithm
derandomization method
redundant test set
分类号
TP301 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
测试集问题的集合覆盖贪心算法的深入近似
崔鹏
刘红静
《软件学报》
EI
CSCD
北大核心
2006
6
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