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题名一种基于内置合约检查和可配置接口的软构件测试技术
被引量:5
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作者
余金山
刘志伟
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机构
华侨大学计算机学院
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出处
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2011年第5期1756-1760,共5页
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基金
福建省自然科学基金资助项目(A0810013)
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文摘
从构件使用者和开发者的角度分析构件及构件化软件的测试,利用Meyer的合约化软件设计思想作为构件测试的理论基础,并在其上进行了扩展和改进,提出了一种基于内置合约检查和可配置接口的构件测试技术。该方法的优点是:当构件被部署到新的系统环境中时,能够自动测试其服务端是否遵守彼此之间合约,并验证自身在运行阶段履行其所声明的义务的能力;利用可配置接口,可以根据所部署环境和特定系统的需求,动态地选择测试强度;当构件集成出现问题时,能够从抛出的异常信息定位到出错的位置。
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关键词
软构件测试
合约检查
内置测试
测试接口设计
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Keywords
software component testing
contract checking
built-in testing
testing interface design
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分类号
TP311.5
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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题名串行反馈内置自测试设计的研究
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作者
李晓维
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机构
北京大学计算机科学技术系
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出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
1994年第4期296-301,共6页
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基金
国家自然科学基金
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文摘
本文给出一种串行反馈内置自测试设计结构,分析了它的状态转移图的拓扑结构,并对若干电路做了模拟实验。研究表明:添加反馈线沟通测试图形生成和响应压缩部分,既能提高测试图形的随机性,又可以降低错误特征被漏检的可能性,从而提高故障覆盖率。
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关键词
内置自测试
设计
串行反馈
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Keywords
testing, easily testable design, built- in self- test,State Transition Graph.
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名并行反馈内置自测试设计方案
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作者
李晓维
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机构
北京大学微电子研究所
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1994年第1期1-6,共6页
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基金
国家自然科学基金资助项目(69306005)
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文摘
本文提出一种并行反馈式内置自测试设计结构,这是对[1][2]中所述方案的改进。状态转移图的拓扑结构分析结果表明:这是一种有效的自测试结构。文中探讨了输出特征的混淆问题,给出了适用于所述BIST结构、能减小和消除特征混淆的解决方案。
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关键词
内置自测试
并行反馈
设计方案
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Keywords
Testing. Design-for-Testability, Built-in Self-Test, State Transition Graph.
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分类号
TM930.2
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名数模混合信号的测试与仿真
被引量:3
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作者
徐卫林
何怡刚
厉芸
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机构
湖南大学电气与信息工程学院
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出处
《现代电子技术》
2004年第22期80-82,93,共4页
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基金
高校博士学科点专项科研基金 (2 0 0 2 0 532 0 1 6)
湖南省杰出青年基金
+1 种基金
湖南大学撷英计划基金
湖南省科技计划基金 [0 3GKY31 1 5]
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文摘
VL SI的发展特别是 So C的出现 ,对混合信号测试的研究提出了紧迫的要求。结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,本文着重讨论了目前现有的各种测试手段及其各自的特点。
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关键词
片上系统
混合信号
扫描测试
内置自测试
故障仿真
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Keywords
SoC
mixedsignal
scan test
BIST
fault simulation
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分类号
TP352
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名SoC中混合信号的测试
被引量:3
- 5
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作者
刘全喜
何怡刚
刘美容
彭浴辉
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机构
湖南大学电气与信息工程学院
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出处
《现代电子技术》
2006年第3期94-98,共5页
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基金
教育部新世纪优秀人才支持计划
湖南省杰出青年基金(03JJY1010)
+4 种基金
高校博士点基金(20020532016)
湖南省科技计划项目(03GKY3115
04FJ2003
05GK2005)
湖南大学撷英计划资助
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文摘
随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高;这极大促进了SoC中混合信号工艺的运用,但是随之而来的是SoC在测试上遇到了前所未有的难题,因为混合信号电路的集成使他不同于纯数字电路IC的测试。SoC中混合信号的测试是SoC进一步发展的瓶颈,这对研究提出了紧迫的要求。介绍SoC中混合信号测试面临的主要问题,着重讨论了混合信号边界扫描测试,内置自测试方法(BIST)等测试手段及各自的特点。展望了SoC混合信号测试的研究方向。
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关键词
SOC
混合信号
扫描测试
内置自测试
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Keywords
SoC
mixed signal
scan test
BIST
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分类号
TN911.23
[电子电信—通信与信息系统]
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