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内掩式透射地基日冕仪中杂光鬼像的消除 被引量:10
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作者 卜和阳 卢振武 +1 位作者 张红鑫 孙明哲 《中国光学》 EI CAS 2013年第2期231-236,共6页
为了消除杂散光对日冕仪成像质量的影响,分析了工作波段为530~555 nm的内掩式透射地基日冕仪(其视场为±1.1~3R⊙,分辨率为13.5μm,口径为120 mm,系统F数为8.2)物镜的多次反射形成的鬼像。基于鬼像形成原理,完成建模模拟,提出了... 为了消除杂散光对日冕仪成像质量的影响,分析了工作波段为530~555 nm的内掩式透射地基日冕仪(其视场为±1.1~3R⊙,分辨率为13.5μm,口径为120 mm,系统F数为8.2)物镜的多次反射形成的鬼像。基于鬼像形成原理,完成建模模拟,提出了结构性遮拦措施,并通过实验论证了遮拦结构对鬼像有良好的遮拦效果,同时验证了鬼像的光强和物镜边缘衍射光基本一致。实验还显示:鬼像的尺寸和模拟基本一致,直径均约为0.9 mm。消除鬼像后,内掩式透射日冕仪消杂光能力和成像质量进一步提高,实现了对日冕的有效观测。 展开更多
关键词 内掩式透射地基日冕仪 鬼像 杂散光 结构遮拦
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