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1
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基于模块复用的存储器内建自测试电路优化 |
张晓旭
山丹
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《中国集成电路》
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2025 |
0 |
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2
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基于共享总线结构的存储器内建自测试电路 |
雷鹏
纪元法
肖有军
李尤鹏
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《半导体技术》
北大核心
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2024 |
0 |
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3
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逻辑内建自测试技术进展综述 |
金敏
向东
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《集成技术》
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2024 |
0 |
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4
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嵌入式存储器内建自测试的原理及实现 |
陆思安
何乐年
沈海斌
严晓浪
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《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
15
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5
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生成确定性测试图形的内建自测试方法 |
雷绍充
邵志标
梁峰
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《西安交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2005 |
5
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6
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一种有效的ADC内建自测试方案 |
吴光林
胡晨
李锐
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《电子器件》
CAS
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2003 |
7
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7
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一款雷达信号处理SOC芯片的存储器内建自测试设计 |
饶全林
何春
饶青
刘辉华
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2008 |
5
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8
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一种基于存储器内建自测试的新型动态March算法设计 |
蔡志匡
余昊杰
杨航
王子轩
郭宇锋
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《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
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2023 |
4
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9
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一种新颖的乘法器核内建自测试设计方法 |
雷绍充
邵志标
梁峰
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《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2006 |
3
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10
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基于部分扫描的低功耗内建自测试 |
李杰
李锐
杨军
凌明
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《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
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2005 |
2
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11
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全数字的模数转换器内建自测试方案 |
饶进
吴光林
凌明
胡晨
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《应用科学学报》
CAS
CSCD
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2004 |
3
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12
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低功耗内建自测试的参数优选 |
胡晨
杨军
史又华
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《应用科学学报》
CAS
CSCD
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2002 |
3
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13
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FCT6芯片的内建自测试方法 |
王巍
高德远
牟澄宇
张盛兵
樊晓桠
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《西北工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2000 |
1
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14
|
一种基于JTAG的CLB内建自测试方法 |
郭德春
杨金孝
陈雷
周涛
张帆
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2011 |
1
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15
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数字IP芯核的多特征比较内建自测试方法(英文) |
谢永乐
王玉文
陈光
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《四川大学学报（工程科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2006 |
2
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16
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VLSI流水化格型数字滤波器的内建自测试 |
杨德才
谢永乐
陈光
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《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2007 |
2
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17
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阵列乘法器通路时延故障的内建自测试 |
杨德才
陈光
谢永乐
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《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
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2009 |
2
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18
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嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证 |
林晓伟
郑学仁
刘汉华
闾晓晨
万艳
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《中国集成电路》
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2006 |
3
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19
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一种新颖的数模转换器静态参数内建自测试方法 |
程梦璋
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2013 |
1
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20
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内建自测试多特征混淆模型 |
郑文荣
王树宗
朱华兵
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《海军工程大学学报》
CAS
北大核心
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2010 |
0 |
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