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用于反熔丝FPGA的内建测试电路
被引量：
3
1
作者
马金龙
卢礼兵
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第2期153-158,共6页
由于反熔丝器件的一次可编程特性,反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)在生产阶段很难完成对电路的功能测试验证。针对反熔丝FPGA典型的结构及其内部可编程逻辑模块(PLM)结构,分析了在编程前对PLM进行全功能测试的方法。设计了内建测试电路结...
由于反熔丝器件的一次可编程特性,反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)在生产阶段很难完成对电路的功能测试验证。针对反熔丝FPGA典型的结构及其内部可编程逻辑模块(PLM)结构,分析了在编程前对PLM进行全功能测试的方法。设计了内建测试电路结构,用于内部PLM逻辑功能的测试。给出了内建测试电路的寻址寄存器、赋值寄存器以及检测电路的结构设计,电路在1.0μm双层多晶双层金属(2P2M)氧化层-氮化物-氧化层(ONO)反熔丝工艺上成功流片。测试结果表明,电路设计正确,解决了在芯片编程前完成基于反熔丝的一次可编程FPGA的内部PLM逻辑功能测试的难题,为后期研究反熔丝电路奠定了基础。
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关键词
反熔丝
现场可编程门阵列(FPGA)
可编程逻辑模块(PLM)
一次可编程器件
内建测试电路
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职称材料
题名
用于反熔丝FPGA的内建测试电路
被引量：
3
1
作者
马金龙
卢礼兵
机构
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第2期153-158,共6页
文摘
由于反熔丝器件的一次可编程特性,反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)在生产阶段很难完成对电路的功能测试验证。针对反熔丝FPGA典型的结构及其内部可编程逻辑模块(PLM)结构,分析了在编程前对PLM进行全功能测试的方法。设计了内建测试电路结构,用于内部PLM逻辑功能的测试。给出了内建测试电路的寻址寄存器、赋值寄存器以及检测电路的结构设计,电路在1.0μm双层多晶双层金属(2P2M)氧化层-氮化物-氧化层(ONO)反熔丝工艺上成功流片。测试结果表明,电路设计正确,解决了在芯片编程前完成基于反熔丝的一次可编程FPGA的内部PLM逻辑功能测试的难题,为后期研究反熔丝电路奠定了基础。
关键词
反熔丝
现场可编程门阵列(FPGA)
可编程逻辑模块(PLM)
一次可编程器件
内建测试电路
Keywords
antifuse
field programmable gate array （FPGA）
programmable logic module （PLM）
one-time programmable device
built-in testing circuit
分类号
TN432 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
用于反熔丝FPGA的内建测试电路
马金龙
卢礼兵
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2016
3
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