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题名SoC芯片内嵌模数转换器的验证测试
被引量：3
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作者
姜岩峰
张东
生晓坤
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机构
北京自动测试技术研究所
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出处
《电子测量技术》
2011年第12期3-7,共5页
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基金
"北京市科学技术研究院创新团队计划"(IG201005C1)资助项目
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文摘
如何对系统芯片(SoC)中内嵌的模数转换器进行验证测试,是集成电路测试技术研究的重点和难点之一。对一款应用于有线数字电视传输中信道解调解码芯片中内嵌模数转换器的测试方法进行了研究,在分析芯片功能和引脚的基础上,列出了具体的测试夹具开发方案和电路引线图,针对内嵌式ADC的特点,给出了测试向量中测试矢量的时序关系,根据时序关系编写了测试向量,基于以上基础,完成了内嵌式ADC的测量,并总结了测量内嵌式ADC时需要注意的问题。
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关键词
系统芯片
内嵌式模数转换器
测试向量
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Keywords
system on chip（SoC）
embedded ADC
testing pattern
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分类号
TN713
[电子电信—电路与系统]
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