期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
NaI(Tl)晶体对面源全能峰效率刻度的点源模拟法 被引量:8
1
作者 屈国普 龚学余 金杰坤 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第4期311-313,共3页
介绍了用点源模拟法来刻度面源全能峰效率的方法。并将刻度结果与数值分析法的理论计算值进行了比较,两者在8%内一致。
关键词 典源模拟法 效率刻度 探测器 闪烁晶体
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部