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题名多目标优化的多存储器内建自测试
被引量：7
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作者
陈佳楠
马永涛
李松
刘丰
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机构
天津大学微电子学院
恩智浦半导体公司
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
北大核心
2020年第1期193-199,共7页
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文摘
片上系统中含有大量的存储器,常使用共享内建自测试电路的方法测试。内建自测试电路的插入过程受到片上系统的面积开销、测试功耗与测试时间的约束。针对这个问题,将多存储器内建自测试建模为多目标优化问题,并提出一种多目标聚类遗传退火算法。该算法在遗传算法的基础上,通过存储器聚类获得存储器兼容组,采用启发式方法获得高质量初始解,提出一种多约束条件下不同权重的目标函数,对较优个体采用模拟退火算法规避局部最优解风险。实验结果表明,该算法比遗传算法性能更优,获得存储器组解进行测试,比现有方法测试功耗降低11.3%,或测试时间降低48.7%,节省了片上测试资源与测试时间。
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关键词
存储器
共享内建自测试
多目标优化
聚类
遗传算法
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Keywords
memory
shared built in self-test
multi-objective optimization
cluster
genetic algorithm
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分类号
TP333
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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