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全电子引信抗过载研究现状
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作者 汪柯 郑监 +3 位作者 施长军 郭莎 任新联 胡宏伟 《探测与控制学报》 北大核心 2025年第1期15-23,共9页
全电子引信具有高安全性和可靠性,实现其在高过载环境中的应用是发展的重要方向之一,提高全电子引信在侵彻等高过载环境中的生存能力是当前的研究重点。介绍了国内外全电子引信的研究和应用现状,从元器件、灌封、结构、装药、先进工艺... 全电子引信具有高安全性和可靠性,实现其在高过载环境中的应用是发展的重要方向之一,提高全电子引信在侵彻等高过载环境中的生存能力是当前的研究重点。介绍了国内外全电子引信的研究和应用现状,从元器件、灌封、结构、装药、先进工艺等角度介绍了全电子引信的抗过载手段。元器件抗过载设计是提高引信抗过载能力的根本方法,灌封和缓冲结构设计是当前提高引信抗过载能力的重要手段。利用增材制造、MEMS等先进工艺实现元器件的小型化和集成化是发展的重要方向。 展开更多
关键词 全电子引信 抗过载 小型化
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基于双核架构的全电子引信测试仪设计 被引量:1
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作者 周孟哲 周伟 《太赫兹科学与电子信息学报》 2023年第2期176-182,共7页
传统的全电子引信无源导通电阻测试均采用外接电阻测试设备或通用的导通电阻测试电路设计,与全电子引信通电工作的电气性能测试毫无关联,无法避免故障产品加电后烧毁的风险。为此提出了能对无源导通电阻和全电子引信通电工作电气性能综... 传统的全电子引信无源导通电阻测试均采用外接电阻测试设备或通用的导通电阻测试电路设计,与全电子引信通电工作的电气性能测试毫无关联,无法避免故障产品加电后烧毁的风险。为此提出了能对无源导通电阻和全电子引信通电工作电气性能综合诊断的系统性设计思路,设计了一种基于ARM芯片和FPGA双核架构的全自动测试控制架构和24 bit高精确度四线制无源导通电阻测试电路,对全电子引信的对外接口部分的无源导通电阻及引信加电工作特性进行全面测试。测试结果表明,该设计能够进行无源导通电阻高精确度测试及通电后工作性能的综合测试,电阻测量精确度为±0.1%。 展开更多
关键词 双核 全电子引信测试 无源导通电阻 四线制
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引信全电子安全系统电磁兼容性改善方法 被引量:9
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作者 郑松 史占付 康兴国 《探测与控制学报》 CSCD 北大核心 2009年第4期35-38,共4页
在引信全电子安全系统研究过程中,发现高频变压器的使用使得电路中产生脉冲电磁干扰,提出采用MOSFET隔离驱动、新型变压器、电源隔离等方法有望减小全电子安全系统电路脉冲电磁干扰,提高引信电磁兼容性,提高引信全电子安全系统的可靠性... 在引信全电子安全系统研究过程中,发现高频变压器的使用使得电路中产生脉冲电磁干扰,提出采用MOSFET隔离驱动、新型变压器、电源隔离等方法有望减小全电子安全系统电路脉冲电磁干扰,提高引信电磁兼容性,提高引信全电子安全系统的可靠性、安全性。 展开更多
关键词 脉冲电磁干扰 引信电子系统 电磁兼容性
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