-
题名TXRF法测定松花粉中的9种生命元素
被引量：5
- 1
-
-
作者
陈伟
韩晓锋
刘伟伟
吕建刚
田宇纮
邬旭然
-
机构
烟台大学化学化工学院
烟台经济技术开发区疾病预防控制中心
烟台新时代健康产业有限公司
-
出处
《分析测试学报》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第8期1009-1012,共4页
-
基金
国家自然科学基金资助项目(21045005)
-
文摘
建立了微波消解前处理,全反射X射线荧光法(TXRF)同时测定松花粉中K、Ca、Ti、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn和Rb 9种生命元素含量的分析方法。松花粉原料经过微波消解前处理后,采用全反射X射线荧光光谱净计数、QXAS分析软件解谱和单一内标法进行定量分析。比较了干灰化法、湿消解法和微波消解法3种前处理方法的效果,并确立微波消解法作为样品前处理方法。用微波消解-TXRF法测定了花粉标准物质中的上述9种元素,并计算得到其仪器检出限(LLD)为0.002～0.054 mg/L,方法检出限(LDM)为0.004～0.122 mg/kg。TXRF法测定各元素的相对标准偏差(RSDs)为1.0%～5.5%。该方法操作简单、样品用量少、检出限低,对实际样品松花粉的测定结果与ICP-MS法无显著性差异。
-
关键词
松花粉
元素分析
微波消解
全反射x射线荧光法(TxRF)
-
Keywords
pine pollen
element analysis
microwave digestion
TxRF
-
分类号
O562.3
[理学—原子与分子物理]
O656.32
[理学—分析化学]
-
-
题名采用热纯水漂洗消除时间雾缺陷
被引量：1
- 2
-
-
作者
熊诚雷
齐旭东
-
机构
麦斯克电子材料有限公司
-
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第9期849-851,共3页
-
文摘
清洗工艺在抛光Si片加工中广泛使用,其纯水槽使用的纯水受区域和季节变化的影响,温度最大波动可以达到10℃以上。阐述了这种波动对清洗后Si片表面化学残留物浓度造成的影响,当冬季水温出现下降,Si片表面化学残留浓度上升,导致时间雾的出现。提出使用热纯水漂洗技术,通过纯水加热器对最终清洗机纯水溢流槽纯水进行加热,使纯水温度保持在稳定水平,在生产中可有效地消除时间雾缺陷并且将Si片表面化学残留浓度控制在良好的水平。
-
关键词
Si抛光片
IPA干燥器
时间雾
热纯水
全反射x射线荧光法
-
Keywords
silicon polished wafer
IPA dryer
time-dependent haze
hot DI water
total reflection xray fluorescence spectrometer
-
分类号
TN305.2
[电子电信—物理电子学]
-
