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题名用散斑干涉光谱分布检测瞬态温度
被引量：3
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作者
武锦辉
杨瑞峰
王高
赵毛太
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机构
中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室
中北大学电子测试技术重点实验室
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出处
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第9期132-137,共6页
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基金
国家自然科学基金(60378019)
电子测试技术国家重点实验室基金(9140C120402X)
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文摘
为了提高对瞬态温度检测的灵敏度,提出了基于散斑干涉条纹光谱分析的瞬态温度反演算法。系统利用散斑干涉形成干涉条纹,由于瞬态温度的变化会使材料应变,从而使散斑干涉条纹改变。被测表面形变前后获得的干涉条纹由面阵CCD采集,其对应的光谱密度分布函数也会发生相应的改变,即由散斑干涉条纹反演得到的中心波长振幅发生改变。通过对两次中心波长幅值的比值的检测和计算,即可获得被测的瞬态温度。在分析计算了瞬态温度变化与材料应变、材料应变与干涉条纹变化的函数关系的基础上,推导了瞬态温度变化与干涉条纹振幅及相位函数关系。实验采用660nm半导体激光器,SI6600型面阵CCD探测器,从获得的光谱分布函数中提取中心波长处幅值比值,通过计算和标定,最终温度检测精度可达到±2℃。相比传统的直接检测干涉条纹的变化量,由被测面形变量推导温度的方法精度提高了近一个数量级,其精度更高、检测均匀性更好、稳定性更好。
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关键词
散斑干涉条纹
瞬态温度
光谱密度分布函数
面阵CCD
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Keywords
speckle pattern interferometry
transient temperature
spectrum density function
area array CCD
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分类号
O432
[机械工程—光学工程]
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