题名 一种综合高效的光盘介质类型识别方法
1
作者
何统洲 黄浩
机构
郧阳师范高等专科学校物理与电子工程系 华中科技大学计算机科学与技术学院
出处
《小型微型计算机系统》
CSCD
北大核心
2008年第7期1208-1210,共3页
基金
国家自然科学基金项目(60273077)资助 博士点基金项目(2002048701)资助
文摘
光驱系统不断集成各种光处理模块以兼容各种碟片,兼容度的提高及市场上光盘碟片介质种类的增多,给光盘介质类型的识别带来了困难.文章提出一种高效识别光盘介质类型的方法,并给出详细实现过程.测试结果表明该方法可以在光驱启动时高效快速地识别出碟片介质类型,从而快速设置OPU激光功率,通道参数和伺服工作参数,使光驱能够更快的启动并读取对应碟片上的数据.
关键词
光存储 光盘介质 识别峰值检测
Keywords
optical storage discriminate optical disc peak detect
分类号
TP333
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
题名 磁光盘记录介质的发展前景
2
作者
刘荣生
机构
中国乐凯胶片公司科技信息站
出处
《化工新型材料》
CAS
CSCD
2000年第5期23-24,共2页
关键词
磁光盘 记录介质 磁记录介质
分类号
TQ587
[化学工程—精细化工]
TN333.41
[电子电信—物理电子学]
题名 酞菁光盘染料的研究进展
被引量：17
3
作者
彭必先 高德涛 闫天堂
机构
中国科学院理化技术研究所 中国科学技术大学应用化学系
出处
《中国科学院研究生院学报》
CAS
CSCD
2000年第1期43-56,共14页
文摘
总结了酞菁光盘染料近十几年的合成进展 ,以及其基本类型、结构与光物理性质之间的关系 ,并在应用方面总结了酞菁光盘染料结构与应用性能之间的关系 ,对其在CD R的应用前景方面作了简要分析 .
关键词
酞菁光盘 染料 CD-R酞菁染料 光盘 记录介质 存储介质 结构 光物理性质 卟啉衍生物
Keywords
phthalocyanine dyes for CD R,phthalocyanine dyes, optical disk medium,storage medium
分类号
TQ613.5
[化学工程—精细化工]
TQ618.97
[化学工程—精细化工]
题名 酞菁光盘染料研究进展(二)
被引量：3
4
作者
徐海涛 陈丽娟 高德涛 彭必先
机构
中国科学院理化技术研究所 中国科学技术大学应用化学系
出处
《中国科学院研究生院学报》
CAS
CSCD
2002年第4期399-409,共11页
文摘
对酞菁类光盘染料的基本类型、合成方法等方面进行了总结,对酞菁染料结构与光物理性质以及应用性能的关系进行了详细系统地讨论。
关键词
研究进展 酞菁染料 光盘 染料光盘 记录介质 存储介质 光物理性质
Keywords
phthalocynine dye, CD Recordable dye, organic recordingmedium, storage medium
分类号
TQ618.97
[化学工程—精细化工]
题名 As-Te硫系膜的光学性质及其热致变化
5
作者
张伟达 闵嗣桂 杨涵美
机构
同济大学材料系 上海硅酸盐所
出处
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
1993年第1期60-63,共4页
文摘
利用真空射频溅射法制得了非晶态As-Te硫系薄膜。借助于XRD法研究了该系统薄膜的热致析晶,并与相应的块状样品作了比较。薄膜在热处理前后的光学折射率和消光系数分别进行了测定,分析了它们与薄膜组成、结构以及析出晶相的关系。另外还对薄膜随温度的变化过程进行了研究,指出了造成反射率发生变化的主要原因以及它们所对应的温度区域,对该系统薄膜在光盘方面的应用作了预言。
关键词
硫系薄膜 光学性质 析晶 光盘介质
Keywords
chalcogenide film optical property optic disk medium crystallization
分类号
TQ171.112
[化学工程—玻璃工业]
题名 光学镀膜与装置
6
出处
《中国光学》
EI
CAS
1999年第6期44-45,共2页
文摘
TB43 99063792作为光盘记录介质的偶氮染料掺杂高分子薄膜制备及其光学特性=Preparation and optical propertiesof azo—dye—doped macromolecule thin filmused as optical disk recording medium[会,中]/王光斌,侯立松,干福熹(中科院上海光机所.上海(201800))∥98’中国青年光学学术讨论会.—陕西。
关键词
光盘 记录介质 染料掺杂 学术讨论会 高分子 光学特性 薄膜制备 中国青年 光学镀膜 薄膜化 偶氮染料
分类号
O484.41
[理学—固体物理]
题名 光特性测量及设备
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出处
《中国光学》
EI
CAS
1994年第2期82-82,共1页
文摘
O431 94021393多层膜光学常数的迭代椭偏测量研究=A study ofthe interactive elliptic-polarized measurementof optical parameters of multi-layeredthin films[刊,中]/张维佳(北京航空航天大学)//北京航空航天大学学报.-1993,(4).-1～11论述了多层薄膜光学常数的椭偏测量原理以及测量方法。使测量的重复性和精确度都大大提高,用这种方法精确测量了相变光盘记录介质膜晶态下的光学常数。
关键词
薄膜光学常数 结构优化设计 光盘 记录介质 多层膜 相变光盘 精确度 特性测量 北京航空航天大学 迭代 半导体
分类号
O484.41
[理学—固体物理]
