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光栅直线位移测量技术研究进展与展望
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作者 赵志财 于海 +2 位作者 万秋华 赵长海 李勇杰 《电测与仪表》 北大核心 2025年第2期51-61,共11页
直线位移测量技术在机械精密制造领域扮演着至关重要的角色,是保证加工精度的关键。与其他直线位移测量技术相比,光栅直线位移测量技术具有测量精度高、抗干扰能力强,易于实现大量程测量等优点,已成为当下研究热点之一,为进一步开展光... 直线位移测量技术在机械精密制造领域扮演着至关重要的角色,是保证加工精度的关键。与其他直线位移测量技术相比,光栅直线位移测量技术具有测量精度高、抗干扰能力强,易于实现大量程测量等优点,已成为当下研究热点之一,为进一步开展光栅直线位移测量技术研究,文中分析了三种光栅直线位移测量系统的测量原理,归纳整理了三种光栅直线位移测量的研究进展,并总结现有研究的优点与存在的不足:基于莫尔条纹的光栅直线位移测量技术受限于衍射极限的影响,分辨力难以进一步提高,基于衍射光栅的直线位移测量技术难以实现绝对位置测量,基于图像处理算法的直线位移测量技术存在集成化程度较低、测量范围有限等缺点,展望了光栅直线位移测量技术的发展方向。为开展光栅直线位移测量技术研究提供依据。 展开更多
关键词 光栅直线位移测量 高精度 高分辨力 大量程 研究进展 展望
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