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GaN HEMT可靠性光学测试技术研究进展 被引量:5
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作者 杜成林 蔡小龙 +4 位作者 孙梓轩 刘海军 张煜 段向阳 陆海 《半导体技术》 CAS 北大核心 2020年第9期657-668,共12页
氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)具有高工作电压、大功率密度、高截止频率等特点,被广泛应用于微波射频领域。然而GaN材料内部的结构缺陷降低了GaN HEMT的可靠性,因此研究器件的结构缺陷对于提升其可靠性具有重要意义。综述了电致... 氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)具有高工作电压、大功率密度、高截止频率等特点,被广泛应用于微波射频领域。然而GaN材料内部的结构缺陷降低了GaN HEMT的可靠性,因此研究器件的结构缺陷对于提升其可靠性具有重要意义。综述了电致发光(EL)、光致发光(PL)、阴极荧光(CL)、显微拉曼光谱和红外(IR)热成像五种光学测试技术的基本原理和实验系统,以及近年来国内外利用相关光学测试技术分析GaN HEMT可靠性的研究进展。分析了五种光学测试技术的优势和局限性,与电学测试技术相比,光学测试技术可以确定缺陷的类型及空间位置。不同测试技术的相互补充将为GaN HEMT可靠性研究提供更加系统化的方案。 展开更多
关键词 氮化镓(GaN) 高电子迁移率晶体管(HEMT) 可靠性分析 光学测试技术 结构缺陷
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炸药物理性能研究中的光学测试技术
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作者 黄涛 《含能材料》 EI CAS CSCD 1993年第2期38-41,共4页
本文介绍了在炸药爆轰、感度和力学等物理性能的实验研究中应用的光学测试技术,其中包括高速摄影测试技术、光带法测试技术、激光干涉测速技术、瞬态高温测试技术、光纤传感器测试技术、阴影纹影测试技术和云纹测试技术等。
关键词 炸药 物理性能 光学测试技术 爆轰 感度
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基于互相关技术的光学系统透过率检测 被引量:3
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作者 董起顺 姜涛 +1 位作者 张森 庞美鹃 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第6期1103-1105,共3页
提出一种基于相关检测原理的双频双光束光学透过率检测方法。该方法不仅提高了检测精度,而且可实现在亮场条件下进行检测,能取代目前采用的单通道光学系统透过率检测方法。
关键词 仪器仪表技术 光学测试技术 透过率 锁定放大器 可见光
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一种利用智能手机测量钢板n值与r值的试验技术 被引量:1
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作者 龚敏 张建伟 方健 《塑性工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2016年第5期216-219,共4页
介绍了一种利用智能手机拍照功能,结合免费光学测试软件GOM Correlate V8来测量平板拉伸试样n值和r值的方法,并通过对比试验验证了该方法的可行性和精度。该方法可在试样上任意位置取任意长度的标距,从而避免引伸计标距对伸长率的影响... 介绍了一种利用智能手机拍照功能,结合免费光学测试软件GOM Correlate V8来测量平板拉伸试样n值和r值的方法,并通过对比试验验证了该方法的可行性和精度。该方法可在试样上任意位置取任意长度的标距,从而避免引伸计标距对伸长率的影响。同时该方法装备简易、性价比高,给经费紧张的小型检测实验室提供了一种测定材料n值和r值的有效的解决方案。 展开更多
关键词 拉伸试验 n值 r值 智能手机 光学测试技术
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