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苹果水心病的光学无损检测 被引量:22
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作者 韩东海 刘新鑫 +3 位作者 赵丽丽 王忠义 涂润林 乔伟 《农业机械学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第5期143-146,共4页
通过密度法和自行研制的水心病检测仪器对苹果样品进行检测 ,结果表明 :密度无法分离该样品水心病 ;而 1~ 4级水心病的透光强度之间存在显著差异 ,可以进行水心病判断。把近红外 810 nm的计算透光强度2 5 0 0 0作为界限值可以将好果 (1... 通过密度法和自行研制的水心病检测仪器对苹果样品进行检测 ,结果表明 :密度无法分离该样品水心病 ;而 1~ 4级水心病的透光强度之间存在显著差异 ,可以进行水心病判断。把近红外 810 nm的计算透光强度2 5 0 0 0作为界限值可以将好果 (1级 )与 3、4级果完全分离 ,2级果有 2 展开更多
关键词 苹果 水心病 光学无损检测 贮藏过程
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光学无损检测技术在烟叶采烤过程中的应用研究进展 被引量:1
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作者 刘浩 孟令峰 +4 位作者 王松峰 王爱华 杜海娜 李增盛 孙福山 《作物研究》 2022年第4期396-400,共5页
烟叶的产量和品质是保障中式卷烟品质的基础,采收和烘烤是决定烟叶质量的重要生产过程。目前我国生产上对烟叶采收标准和烘烤进程的判断主要依靠人工经验进行主观判断,具有较复杂、不便捷、应用不方便的特点。光学无损检测技术可以很好... 烟叶的产量和品质是保障中式卷烟品质的基础,采收和烘烤是决定烟叶质量的重要生产过程。目前我国生产上对烟叶采收标准和烘烤进程的判断主要依靠人工经验进行主观判断,具有较复杂、不便捷、应用不方便的特点。光学无损检测技术可以很好地弥补人工经验不足、判断不准等问题,且可以实现快速、大面积检测和远距离无接触式探测。本文对光学无损检测技术在鲜烟叶成熟度判定和烘烤过程中的应用现状及进展进行综述,并对其进一步的应用进行展望,以为烟叶烘烤技术的研究提供参考。 展开更多
关键词 烤烟 采收 烘烤 光学无损检测 成熟度
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基于剪切散斑干涉的固体推进剂内部缺陷识别
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作者 常军 王虎 +2 位作者 占明明 刘斌 简琦薇 《兵器装备工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第5期100-105,共6页
基于激光剪切散斑干涉技术搭建的高精度实时无损检测系统,对固体推进剂进行了负压加载条件下内部缺陷检测,对比分析了衬层界面脱粘和基体孔洞2种不同类型缺陷的表面散斑干涉条纹图和归一化离面位移值,利用剥离实验和有限元数值模拟,分... 基于激光剪切散斑干涉技术搭建的高精度实时无损检测系统,对固体推进剂进行了负压加载条件下内部缺陷检测,对比分析了衬层界面脱粘和基体孔洞2种不同类型缺陷的表面散斑干涉条纹图和归一化离面位移值,利用剥离实验和有限元数值模拟,分别分析了不同类型缺陷的固体推进剂界面粘接强度和表面离面位移的差异。结果表明,相同加载条件下,衬层脱粘引起的包覆层表面归一化离面位移明显大于基体孔洞缺陷所引起的离面位移,达到了1~2数量级。本研究为固体推进剂衬层脱粘和基体孔洞缺陷的无损检测提供了重要的研究途径。 展开更多
关键词 固体推进剂 剪切散斑干涉 衬层脱粘 基体孔洞 光学无损检测
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高精度压电陶瓷相移器设计
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作者 幺春娟 裘祖荣 于复生 《电子测量技术》 2005年第2期80-81,共2页
文中采用压电陶瓷柱和自行设计的0-300V直流可调电源制作高精度压电陶瓷相移器,并由计算机通过D/A转换板输出电压进行控制,采用CCD组成闭环反馈。经过标定,相移器的相位误差在±3°之内。该相移器的使用提高光学无损检测的测量... 文中采用压电陶瓷柱和自行设计的0-300V直流可调电源制作高精度压电陶瓷相移器,并由计算机通过D/A转换板输出电压进行控制,采用CCD组成闭环反馈。经过标定,相移器的相位误差在±3°之内。该相移器的使用提高光学无损检测的测量精度,而且经济性很好。 展开更多
关键词 高精度 陶瓷相 D/A转换板 光学无损检测 压电陶瓷 相移器 输出电压 可调电源 自行设计 闭环反馈 相位误差 测量精度 计算机 CCD 经济性
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Experimental investigation of subsurface damage depth of lapped optics by fluorescent method 被引量:5
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作者 WANG Hong-xiang HOU Jing +2 位作者 WANG Jing-he ZHU Ben-wen ZHANG Yan-hu 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS CSCD 2018年第7期1678-1689,共12页
Subsurface defects were fluorescently tagged with nanoscale quantum dots and scanned layer by layer using confocal fluorescence microscopy to obtain images at various depths. Subsurface damage depths of fused silica o... Subsurface defects were fluorescently tagged with nanoscale quantum dots and scanned layer by layer using confocal fluorescence microscopy to obtain images at various depths. Subsurface damage depths of fused silica optics were characterized quantitatively by changes in the fluorescence intensity of feature points. The fluorescence intensity vs scan depth revealed that the maximum fluorescence intensity decreases sharply when the scan depth exceeds a critical value. The subsurface damage depth could be determined by the actual embedded depth of the quantum dots. Taper polishing and magnetorheological finishing were performed under the same conditions to verify the effectiveness of the nondestructive fluorescence method. The results indicated that the quantum dots effectively tagged subsurface defects of fused-silica optics, and that the nondestructive detection method could effectively evaluate subsurface damage depths. 展开更多
关键词 OPTICS subsurface defect nondestructive detection LAPPING subsurface damage
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