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一维光子晶体中的电磁模密度
被引量：
8
1
作者
陈慰宗
郑新亮
+3 位作者
付灵丽
李绍雄
申影
高平安
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期239-243,共5页
阐述了电磁模密度 (EDOM )的概念及其在描述光辐射中的重要作用 .推导了有限大小的均匀介质和一维光子晶体EDOM的解析表达式 ,计算出由λ0 /4薄片构成的一维光子晶体的EDOM ,明显看出一维光子晶体中EDOM受光子带结构调制的现象 ;分析了...
阐述了电磁模密度 (EDOM )的概念及其在描述光辐射中的重要作用 .推导了有限大小的均匀介质和一维光子晶体EDOM的解析表达式 ,计算出由λ0 /4薄片构成的一维光子晶体的EDOM ,明显看出一维光子晶体中EDOM受光子带结构调制的现象 ;分析了在带边缘处EDOM有极大增强的现象 ,其值近似正比于周期数N的平方和两种介质折射率差的平方 ,并用数值计算结果证实了这一特点 .
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关键词
一维
光子
晶体
电磁模密度
λ/4薄片堆
光子带边缘
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职称材料
题名
一维光子晶体中的电磁模密度
被引量：
8
1
作者
陈慰宗
郑新亮
付灵丽
李绍雄
申影
高平安
机构
西北大学物理系
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期239-243,共5页
文摘
阐述了电磁模密度 (EDOM )的概念及其在描述光辐射中的重要作用 .推导了有限大小的均匀介质和一维光子晶体EDOM的解析表达式 ,计算出由λ0 /4薄片构成的一维光子晶体的EDOM ,明显看出一维光子晶体中EDOM受光子带结构调制的现象 ;分析了在带边缘处EDOM有极大增强的现象 ,其值近似正比于周期数N的平方和两种介质折射率差的平方 ,并用数值计算结果证实了这一特点 .
关键词
一维
光子
晶体
电磁模密度
λ/4薄片堆
光子带边缘
Keywords
One-dimensional photonic crystal
Electromagnetic mode density
Quarter-wave stack
Photonoc band-edge
分类号
O484.4 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
一维光子晶体中的电磁模密度
陈慰宗
郑新亮
付灵丽
李绍雄
申影
高平安
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
8
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