检索结果-维普期刊中文期刊服务平台

用EDS测量薄膜的厚度及其元素的深度分布被引量：3: 1; 作者赵家政徐洮马良《电子显微学报》 CAS CSCD 1998年第5期495-496,共2页; 在扫描电子显微观察的同时，用ＥＤＳ测量薄膜的厚度及其元素的深度分布［１，２］简便可行。薄膜厚度的测量例１．载玻片上的ＣｏＣｕ膜。对载玻片、Ｃｕ底膜和ＣｏＣｕ膜，用ＥＤＳ分别进行了测量，其数据列入表１。根据电子在膜中的... 展开更多; 关键词薄膜测量厚度元素深度分布 EDS; 在线阅读下载PDF 职称材料

微通道板次级电子发射层中各元素随深度的分布被引量：2: 2; 作者韦亚一陶兆民《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 1991年第6期384-387,共4页; 本文应用XPS研究微通道板次级电子发射层中各元素浓度随深度的分布,以及不同烧氢还原温度对此分布的影响,并讨论了不同烧氢还原温度对次级电子发射性能的影响,在此基础上提出了改进微通道板性能的几个途径。; 关键词微通道板 XPS(X光电子能谱) 烧氢还原元素深度分布次级电子发射体; 在线阅读下载PDF 职称材料

用质子弹散符合测量方法分析薄膜中氢分布的蒙特卡罗研究被引量：1: 3; 作者杨江燕郑涛 +1 位作者田继挺刘旭《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第7期829-833,共5页; 本文从离子与物质相互作用的基本原理出发，用蒙特卡罗方法模拟了用质子弹性散射符合分析方法分析表面含氢的几组不同厚度的金属薄膜样品的实验，详细介绍了模拟过程中影响深度分辨率的多种因素，如束流能量、能损歧离、角度歧离等。本... 展开更多; 关键词质子弹性散射符合分析氢元素深度分布; 在线阅读下载PDF 职称材料

北京大学4.5 MV静电加速器核反应分析系统被引量：3: 4; 作者高原朱吉鹏 +3 位作者秦利青肖璇王宇钢颜莎《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第5期906-912,共7页; 为满足对聚变堆面向等离子体材料中氘氚滞留问题的研究,北京大学4.5 MV静电加速器在原束线基础上新增核反应分析系统,该系统使用能量0.8～3.6 MeV的H^+、D^+、~3He^+和~4He^+粒子束流,可对核反应微分截面和样品中元素浓度的深度分布进... 展开更多; 关键词静电加速器核反应分析微分截面元素浓度深度分布; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名用EDS测量薄膜的厚度及其元素的深度分布被引量：3: 1; 作者赵家政徐洮马良; 机构中国科学院兰州化学物理研究所固体润滑开放研究实验室; 出处《电子显微学报》 CAS CSCD 1998年第5期495-496,共2页; 文摘在扫描电子显微观察的同时，用ＥＤＳ测量薄膜的厚度及其元素的深度分布［１，２］简便可行。薄膜厚度的测量例１．载玻片上的ＣｏＣｕ膜。对载玻片、Ｃｕ底膜和ＣｏＣｕ膜，用ＥＤＳ分别进行了测量，其数据列入表１。根据电子在膜中的穿透深度（４０ｋＶ时在Ｃｕ膜中穿透...; 关键词薄膜测量厚度元素深度分布 EDS; 分类号 O484.5 [理学—固体物理]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名微通道板次级电子发射层中各元素随深度的分布被引量：2: 2; 作者韦亚一陶兆民; 机构中国科学院电子学研究所; 出处《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 1991年第6期384-387,共4页; 文摘本文应用XPS研究微通道板次级电子发射层中各元素浓度随深度的分布,以及不同烧氢还原温度对此分布的影响,并讨论了不同烧氢还原温度对次级电子发射性能的影响,在此基础上提出了改进微通道板性能的几个途径。; 关键词微通道板 XPS(X光电子能谱) 烧氢还原元素深度分布次级电子发射体; Keywords Micro-channel Plate(MCP) XPS(X-ray photoelectron spectroscopy) reduced by hydrogen elemental depth-distribution secondary electron emitter.; 分类号 TB7-55 [一般工业技术—真空技术]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名用质子弹散符合测量方法分析薄膜中氢分布的蒙特卡罗研究被引量：1: 3; 作者杨江燕郑涛田继挺刘旭; 机构北京大学物理学院核科学与核技术国家重点实验室; 出处《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第7期829-833,共5页; 基金国家自然科学基金项目(10975010 J1103206); 文摘本文从离子与物质相互作用的基本原理出发，用蒙特卡罗方法模拟了用质子弹性散射符合分析方法分析表面含氢的几组不同厚度的金属薄膜样品的实验，详细介绍了模拟过程中影响深度分辨率的多种因素，如束流能量、能损歧离、角度歧离等。本文基于2×1．7MV串列静电加速器可以提供的质子束能量范围，通过模拟计算得到用能量为1．5 MeV的质子束分析厚度为1～3微米的铝膜，深度分辨可以达到0．2微米。本文还给出了内部含氢的多层铝膜的模拟结果，表明此方法可以很好地分析薄膜内部氢元素的深度分布。; 关键词质子弹性散射符合分析氢元素深度分布; Keywords proton elastic scattering coincidence method hydrogen depth profile; 分类号 O571.33 [理学—粒子物理与原子核物理] TL814 [核科学技术—核技术及应用]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名北京大学4.5 MV静电加速器核反应分析系统被引量：3: 4; 作者高原朱吉鹏秦利青肖璇王宇钢颜莎; 机构北京大学物理学院核物理与核技术国家重点实验室; 出处《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第5期906-912,共7页; 基金国家磁约束核聚变专项资助项目(2013GB109004) 国家自然科学基金资助项目(11305005); 文摘为满足对聚变堆面向等离子体材料中氘氚滞留问题的研究,北京大学4.5 MV静电加速器在原束线基础上新增核反应分析系统,该系统使用能量0.8～3.6 MeV的H^+、D^+、~3He^+和~4He^+粒子束流,可对核反应微分截面和样品中元素浓度的深度分布进行测量分析。本文对核反应分析原理、核反应分析系统的设备布局和实验方法进行了讨论,并以D(~3He,p)~4He核反应为例,分析了微分截面计算和样品中氘元素浓度深度分布的数据结果,其深度分辨小于1.5μm,实验误差约为7.5%。; 关键词静电加速器核反应分析微分截面元素浓度深度分布; Keywords electrostatic accelerator nuclear reaction analysis differential cross section depth distribution of element concentration; 分类号 TL52 [核科学技术—核技术及应用]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	用EDS测量薄膜的厚度及其元素的深度分布	赵家政徐洮马良	《电子显微学报》 CAS CSCD	1998	3	在线阅读下载PDF 职称材料
2	微通道板次级电子发射层中各元素随深度的分布	韦亚一陶兆民	《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD	1991	2	在线阅读下载PDF 职称材料
3	用质子弹散符合测量方法分析薄膜中氢分布的蒙特卡罗研究	杨江燕郑涛田继挺刘旭	《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心	2014	1	在线阅读下载PDF 职称材料
4	北京大学4.5 MV静电加速器核反应分析系统	高原朱吉鹏秦利青肖璇王宇钢颜莎	《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心	2019	3	在线阅读下载PDF 职称材料