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集成电路测试技术与应用
被引量：
12
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作者
谷健
田延军
+1 位作者
史文
张晓黎
《中国惯性技术学报》
EI
CSCD
2002年第1期60-64,共5页
通过对IMS公司生产的集成电路测试系统ATS的描述,讨论了集成电路(IC)的测试技术及其在ATS上的应用方法,并以大规模集成电路芯片8255为例,给出一种芯片在该集成电路测试系统上从功能分析到具体测试的使用过程。
关键词
集成电路
测试
芯片8255
元器件老化筛选测试
在线阅读
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职称材料
题名
集成电路测试技术与应用
被引量：
12
1
作者
谷健
田延军
史文
张晓黎
机构
天津航海仪器研究所
出处
《中国惯性技术学报》
EI
CSCD
2002年第1期60-64,共5页
文摘
通过对IMS公司生产的集成电路测试系统ATS的描述,讨论了集成电路(IC)的测试技术及其在ATS上的应用方法,并以大规模集成电路芯片8255为例,给出一种芯片在该集成电路测试系统上从功能分析到具体测试的使用过程。
关键词
集成电路
测试
芯片8255
元器件老化筛选测试
Keywords
IC
testing
application
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
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被引量
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1
集成电路测试技术与应用
谷健
田延军
史文
张晓黎
《中国惯性技术学报》
EI
CSCD
2002
12
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