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像差校正高分辨透射电子显微术及其在表征功能氧化物材料结构及界面中的应用
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作者 米少波 贾春林 《中国材料进展》 CAS CSCD 北大核心 2017年第7期566-574,共9页
简要介绍基于像差校正高分辨透射电子显微镜的负球差成像技术及其在研究功能氧化物材料原子构型中的应用。在亚埃尺度的空间分辨率下,负球差成像技术不但可以获得高衬度的原子尺度结构像,而且可以在皮米精度测量材料中的原子的相对位移... 简要介绍基于像差校正高分辨透射电子显微镜的负球差成像技术及其在研究功能氧化物材料原子构型中的应用。在亚埃尺度的空间分辨率下,负球差成像技术不但可以获得高衬度的原子尺度结构像,而且可以在皮米精度测量材料中的原子的相对位移,从而精确表征材料结构、晶格缺陷的细微变化及其对材料性能的影响。负球差成像技术为定量解析材料中包含轻原子(例如,氧)在内的精细结构问题提供了有力的手段。重点介绍了负球差成像技术在表征铁电材料电偶极矩、畴结构及畴壁,氧化物异质界面和三维Mg O晶体表面精细结构中的应用。 展开更多
关键词 界面 显微结构 氧化物 像差校正高分辨透射电子显微术 负球成像
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透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术研究AlN单晶生长习性 被引量:5
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作者 李娟 胡小波 +2 位作者 高玉强 王翎 徐现刚 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期1117-1120,共4页
采用透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术对氮化硼坩埚中自发成核的AlN单晶生长习性进行了研究。结果表明,在低温下,AlN单晶显露面为(0001)面,随着温度的升高,AlN单晶显露面转化为(112-0)面。沟槽结构是高温下得到的AlN单晶共有的显著... 采用透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术对氮化硼坩埚中自发成核的AlN单晶生长习性进行了研究。结果表明,在低温下,AlN单晶显露面为(0001)面,随着温度的升高,AlN单晶显露面转化为(112-0)面。沟槽结构是高温下得到的AlN单晶共有的显著特征,其取向沿[0001]方向。 展开更多
关键词 透射电子显微 分辨X射线衍射仪 AlN单晶
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透射电子显微镜空间分辨率综述 被引量:5
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作者 尹美杰 健男 +1 位作者 张熙 刁东风 《深圳大学学报(理工版)》 CAS CSCD 北大核心 2023年第1期1-13,共13页
透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)具有超高的空间分辨率,是化学、材料科学、物理学、生物科学等领域最重要的研究手段之一.影响TEM空间分辨率的因素众多,不仅包括电镜自身结构和成像原理等,还有样品性质等原因.为... 透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)具有超高的空间分辨率,是化学、材料科学、物理学、生物科学等领域最重要的研究手段之一.影响TEM空间分辨率的因素众多,不仅包括电镜自身结构和成像原理等,还有样品性质等原因.为系统且全面地了解TEM分辨率的涵义、原理与应用,本文通过回顾TEM空间分辨率的发展历史,从理论上厘清了TEM空间分辨率的概念、物理涵义、影响因素和适用范围;从电镜装置角度,分别概述了电子枪、磁透镜、图像探测器和电镜内外部环境对空间分辨率的影响规律,以及单色器、像差校正器和新型图像探测器的发展现状;从实际应用角度,重点介绍了样品过厚、电子束损伤、积碳和原子振动等降低空间分辨率的作用机理及解决途径.本文可为非电子显微学研究者们正确使用TEM提供参考. 展开更多
关键词 纳米科学与技 透射电子显微 空间分辨 单色器 像差校正 图像探测器 厚样品 电子束敏感 积碳 原子振动
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电子全息在自旋电子学及半导体多量子阱材料研究中的应用
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作者 张泽 王勇 +2 位作者 刘玉资 戴涛 张喆 《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期244-244,共1页
关键词 半导体量子阱 自旋电子 材料研究 多量子阱 电子全息 分辨电子显微 透射电子显微 应用 信息科学技
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透射电镜原子像的数值分析
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作者 万威 陈江华 《电子显微学报》 CAS CSCD 2006年第B08期3-3,共1页
关键词 原子像 数值分析 透射电镜 分辨电子显微 材料结构 图像处理技 结构信息 HRTEM
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氮空位在纳米GaN颗粒和InGaN AlGaN双异质结中的聚集(英文)
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作者 张泽 王岩国 李辉 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期253-258,共6页
直流放电等离子法制备纳米GaN颗粒中的氮缺乏可导致空位形成。在电子显微观察的电子辐照条件下 ,这些N 空位将进一步凝聚 ,形成一个a =2 2 0 9nm ,b =3 82 6nm ,c=1 0 3 7nm ,α =β =γ =90°的调制结构。随着电子辐照剂量增加 ... 直流放电等离子法制备纳米GaN颗粒中的氮缺乏可导致空位形成。在电子显微观察的电子辐照条件下 ,这些N 空位将进一步凝聚 ,形成一个a =2 2 0 9nm ,b =3 82 6nm ,c=1 0 3 7nm ,α =β =γ =90°的调制结构。随着电子辐照剂量增加 ,纳米颗粒中心将出现空洞 ,同时使该区的金属镓离子迁移到颗粒的表面。电子显微分析及分子力学理论计算表明 ,这种新的调制结构系空位的有序排列所致。在此基础上 ,进一步研究了InGaN AlGaN的双异质结薄膜结构中直径约为 5 0nm的空洞存在与发光失效的关系 ,讨论了N 展开更多
关键词 氮空位 GaN InGaN/AlGaN 双异质结 聚集 氮化镓 氮铟镓 铝镓氮 纳米颗粒 调制结构 分辨透射电子显微 选区电子衍射 分子力学
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α-Fe_2O_3表面结构的研究 被引量:2
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作者 占伟 于荣 +3 位作者 陆四荣 李月亮 陈厚文 朱静 《电子显微学报》 CAS CSCD 2012年第5期375-378,共4页
像差校正透射电子显微镜拥有亚埃级的分辨率,并克服了物镜离域效应的影响,可以定量分析复杂氧化物表面的原子结构,如弛豫、缺陷等。本文利用像差校正高分辨透射电镜,结合多片层法像模拟,研究了α-Fe2O3纳米颗粒[0001]带轴下的内部结构... 像差校正透射电子显微镜拥有亚埃级的分辨率,并克服了物镜离域效应的影响,可以定量分析复杂氧化物表面的原子结构,如弛豫、缺陷等。本文利用像差校正高分辨透射电镜,结合多片层法像模拟,研究了α-Fe2O3纳米颗粒[0001]带轴下的内部结构和表面结构。结果表明α-Fe2O3[0001]带轴下以O3-Fe4-O3-…方式的(1120)表面终结,表现为非极性表面。 展开更多
关键词 表面 像差校正 分辨透射电镜 图像模拟
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AlSb/GaAs异质外延薄膜应变的HRTEM几何相位分析 被引量:2
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作者 贺小庆 温才 +1 位作者 卢朝靖 段晓峰 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第4期338-342,共5页
用几何相位分析(geometric phase analysis,GPA)方法研究了AlSb/GaAs异质外延薄膜的应变。此方法基于高分辨像的傅里叶变换。通过选择傅里叶变换点分辨率以内的某个强衍射,做反傅里叶变换得到晶格条纹的相对的相位分布,进一步得到应变... 用几何相位分析(geometric phase analysis,GPA)方法研究了AlSb/GaAs异质外延薄膜的应变。此方法基于高分辨像的傅里叶变换。通过选择傅里叶变换点分辨率以内的某个强衍射,做反傅里叶变换得到晶格条纹的相对的相位分布,进一步得到应变分布。Bragg滤波条纹像确认了60°和90°失配位错的存在。分析讨论了位错核心区域应变分布差异的可能机制。 展开更多
关键词 分辨透射电子显微 异质结 应变 失配位错
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