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基于YOLOv8-S的偏光片表面缺陷检测算法
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作者 盛威 周永霞 +1 位作者 陈俊杰 赵平 《计算机工程与应用》 北大核心 2025年第6期128-140,共13页
随着偏光片市场不断扩大,应用愈发广泛,对偏光片的生产要求也愈加严格。针对在偏光片表面缺陷检测中,存在缺陷形态复杂、小尺寸缺陷容易误检漏检的问题,提出一种基于YOLOv8-S偏光片表面缺陷检测改进算法。使用DCNv3替换主干网C2f模块中... 随着偏光片市场不断扩大,应用愈发广泛,对偏光片的生产要求也愈加严格。针对在偏光片表面缺陷检测中,存在缺陷形态复杂、小尺寸缺陷容易误检漏检的问题,提出一种基于YOLOv8-S偏光片表面缺陷检测改进算法。使用DCNv3替换主干网C2f模块中的普通卷积,同时结合EMA注意力机制,构建DEC2f特征提取模块,提升主干网对复杂缺陷的特征提取能力。基于特征细化模块构建轻量跨尺度特征细化融合模块(LCFRFM),提升通道净化能力并降低参数量,有效跨尺度融合主干网浅层特征。引入ConvMixer Layer构建CMC2f预测头,更大的预测视野带来更强的小尺寸缺陷检测能力。使用SIoU替换CIoU作为边界框回归损失函数,使用AdamW替换SGD作为网络训练时的优化器,提升检测精度和训练收敛速度。实验结果表明,该算法相比YOLOv8-S在mAP50和mAP50:95上分别提升了2.4和2.9个百分点,证明了提出算法的有效性。 展开更多
关键词 偏光片表面 缺陷检测 特征提取 跨尺度特征融合 YOLOv8
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改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法 被引量:3
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作者 陈乐 周永霞 祖佳贞 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2024年第2期295-303,共9页
偏光片是液晶显示器的重要组成部分,其表面缺陷不仅会降低液晶显示器的显示质量,甚至可能造成整个液晶面板的报废。针对偏光片表面缺陷存在尺度差异大、形状变化多样的问题,提出一种改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法。提出自适应平... 偏光片是液晶显示器的重要组成部分,其表面缺陷不仅会降低液晶显示器的显示质量,甚至可能造成整个液晶面板的报废。针对偏光片表面缺陷存在尺度差异大、形状变化多样的问题,提出一种改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法。提出自适应平衡特征金字塔(ABFP)模块充分融合主干网提取的多级特征,并通过单个卷积增加检测分支,进一步增强模型的多尺度检测能力。在ABFP中引入注意力模块CBAM关注重要特征。采用CIo U损失函数的同时使用Mish激活函数替代Si LU激活函数。实验结果表明,改进的算法在偏光片表面缺陷数据集上的m AP_(50)和m AP_(50:95)分别达到92.97%和55.16%,相比YOLOX-S(FPN)提升了1.86和1.34个百分点,每秒检测帧数(FPS)达到50,基本满足工业实时检测的需求。 展开更多
关键词 偏光片表面 缺陷检测 YOLOX-S 自适应平衡特征金字塔 CIoU Mish
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