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题名EMCCD倍增增益老化分析与评价技术
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作者
李钦
吴琼瑶
伍明娟
林珑君
段大川
林雪梅
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机构
中国电子科技集团公司第四十四研究所
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出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2022年第2期36-39,共4页
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文摘
微光成像技术在国防军事、科学研究等多方面有着不可替代的作用,已经成为各国竞相发展的战略高新技术。目前,空间用EMCCD芯片的设计与制造均由美国公司完全掌握,但美国政府对EMCCD技术进行严格的技术封锁和产品出口管制。而我国全天时相机对地观察等系统需要采用EMCCD,因此,急需针对国产化EMCCD开展倍增增益老化分析与评价。主要针对EMCCD的衰减特性,制定了3种不同的老化测试方法。通过对器件衰减曲线数据进行记录和分析,得出了器件在同一工作温度、不同和起始倍增倍数下,以及调节和不调节倍增电压情况下的衰减情况。为EMCCD在生产完成后能够快速地进入增益稳定期提供了一定的数据支撑,同时为其老化测试的方法提供了一定的指导。
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关键词
电子倍增电荷耦合器件
微光成像
倍增增益老化
国产化
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Keywords
EMCCD
low light level imaging
multiplication gain aging
localization
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分类号
TB114.37
[理学—概率论与数理统计]
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