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高清晰度电视信道接收芯片的可测试性设计
1
作者
黄勤
李荣玉
《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期817-819,共3页
高清晰度电视 ( HDTV)信道接收芯片 ( 8VSB)的测试策略主要包括全速全扫描的内部测试、片载内存的自检测 ( BIST)以及 IEEE1 1 49.1边界扫描测试 .该芯片总共有 2× 1 0 6个晶体管 ,集成有大量的片载内存 ,并在总体设计时间与实现...
高清晰度电视 ( HDTV)信道接收芯片 ( 8VSB)的测试策略主要包括全速全扫描的内部测试、片载内存的自检测 ( BIST)以及 IEEE1 1 49.1边界扫描测试 .该芯片总共有 2× 1 0 6个晶体管 ,集成有大量的片载内存 ,并在总体设计时间与实现成本上都有约束 ,给测试工作带来了额外的负担 .讨论了如何使用 DFT技术为该芯片提供高可靠性的测试 ,从实现结果来看 ,到达了芯片代工厂对测试向量总数与测试覆盖率的要求 。
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关键词
高清晰度电视
信道接收芯片
大规模集成电路
可测试性设计
片载内存
边界扫描测试
电检测电路
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职称材料
题名
高清晰度电视信道接收芯片的可测试性设计
1
作者
黄勤
李荣玉
机构
上海交通大学区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室
出处
《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期817-819,共3页
文摘
高清晰度电视 ( HDTV)信道接收芯片 ( 8VSB)的测试策略主要包括全速全扫描的内部测试、片载内存的自检测 ( BIST)以及 IEEE1 1 49.1边界扫描测试 .该芯片总共有 2× 1 0 6个晶体管 ,集成有大量的片载内存 ,并在总体设计时间与实现成本上都有约束 ,给测试工作带来了额外的负担 .讨论了如何使用 DFT技术为该芯片提供高可靠性的测试 ,从实现结果来看 ,到达了芯片代工厂对测试向量总数与测试覆盖率的要求 。
关键词
高清晰度电视
信道接收芯片
大规模集成电路
可测试性设计
片载内存
边界扫描测试
电检测电路
Keywords
very large scale integrated circuits
design for test (DFT)
high definition television(HDTV)
分类号
TN949.17 [电子电信—信号与信息处理]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
高清晰度电视信道接收芯片的可测试性设计
黄勤
李荣玉
《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
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