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快速付里叶变换在俄歇电子能谱数据分析中的应用: 1; 作者龚彬《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第1期39-45,共7页; 本文讨论用快速付里叶变换法对俄歇直接谱进行反褶积和光顺处理,进而弥补常规仪器分辨率或信噪比的不够.在频域采用“慢截止”方式抑制高次谐波,有效地控制了反褶积结果的发散和寄生振荡的产生.此反褶积方法能明显地提高谱图的分辨率,... 展开更多; 关键词付里叶变换俄歇电子谱法反褶积; 在线阅读下载PDF 职称材料

因子分析法在Ta_2O_5/Ta俄歇深度剖析上的应用被引量：2: 2; 作者李敏张强基《真空科学与技术》 CSCD 1993年第1期13-20,共8页; 将一种基于多元统计方法的因子分析法用于俄歇深度剖面分析,采用Ar^+离子轰击Ta_2O_5/Ta样品,俄歇峰采用具有高表面灵敏度和化学态灵敏的NOO俄歇跃迁,用因子分析可得到Ta的三种可区别的不同化学态即Ta、Ta_2O_5和Ta_xO_y,并且能提高探... 展开更多; 关键词俄歇电子谱法氧化钽钽因子分析; 在线阅读下载PDF 职称材料

俄歇定量分析基体效应校正因子的获得: 3; 作者杨新菊陆明张强基《真空科学与技术》 CSCD 1993年第3期180-185,共6页; 本文探试了一种俄歇定量分析基体效应校正因子获取的新方法。通过测量淀积过程中的俄歇强度——时间曲线,并对此进行拟合,得到定量分析所需的相对背散射因子和相对非弹性碰撞平均自由程。将它们用于合金样品的定量分析,得到了较好的结... 展开更多; 关键词俄歇电子谱法定量分析合金表面; 在线阅读下载PDF 职称材料

薄膜定量分析中的Auger线型分析方法被引量：2: 4; 作者张庆瑜马腾才《大连理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第2期147-153,共7页; 采用Ａｕｇｅｒ线型分析方法因子分析方法和已知组元强度的定量解谱技术，对电子束辅助Ｎ离子注入Ｓｉ和磁控溅射方法制备的ＴｉＮｘ薄膜的高分辨率俄歇电子能谱（ＡＥＳ），进行了定量分析．; 关键词俄歇电子谱法定量分析线型分析薄膜; 在线阅读下载PDF 职称材料

用于软X射线激光实验的铝衰减膜的测量被引量：7: 5; 作者杜杰王珏 +3 位作者杜保旗周斌华荫曾陈玲燕《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 1993年第1期81-87,共7页; 对不同方法制备的不同厚度的铝衰减膜,用微机控制α测厚仪测量了膜的质量厚度以及膜厚均匀性,用Auser电子能谱(AES)对铝膜进行了组分的表面和深度分布分析,根据铝KLL Auger特征谱揭示了氧化膜的化学组分并测量了氧化膜厚度随放置时间的... 展开更多; 关键词 X射线激光膜衰减膜俄歇电子谱法; 在线阅读下载PDF 职称材料

微通道板表面发雾的AES分析被引量：2: 6; 作者刘术林张继胜 +1 位作者张海峰赵俊《应用光学》 CAS CSCD 1993年第6期25-29,共5页; 应用俄歇电子能谱对微通道板表面发雾区域进行分析。分析结果表明,发雾区碳含量比正常区高三倍。由此可推测出,发雾是由碳污染引起的,而这种碳污染很可能是残留于微通道板上的某些有机物在烧氢时碳化所致。; 关键词微通道板碳污染俄歇电子谱法; 在线阅读下载PDF 职称材料

GaP低阻欧姆接触层的AES和SIMS分析: 7; 作者张福甲李宝军卓肇龙《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第3期247-252,共6页; 本文用AES和SIMS分析讨论了p-GaP与三层金属膜Pd/Zn/Pd形成良好欧姆接触层的性质.; 关键词欧姆接触俄歇电子谱法质谱法; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名快速付里叶变换在俄歇电子能谱数据分析中的应用: 1; 作者龚彬; 机构西安交通大学电子工程系; 出处《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第1期39-45,共7页; 文摘本文讨论用快速付里叶变换法对俄歇直接谱进行反褶积和光顺处理,进而弥补常规仪器分辨率或信噪比的不够.在频域采用“慢截止”方式抑制高次谐波,有效地控制了反褶积结果的发散和寄生振荡的产生.此反褶积方法能明显地提高谱图的分辨率,并同时使曲线光顺.作为实例,对一系列部分氧化的铝试样进行了实验测试和数据处理.; 关键词付里叶变换俄歇电子谱法反褶积; Keywords Auger electron spectrometry deconrolution smoothing of data fourier transform; 分类号 O484.5 [理学—固体物理]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名因子分析法在Ta_2O_5/Ta俄歇深度剖析上的应用被引量：2: 2; 作者李敏张强基; 机构复旦大学真空物理实验室中科院北京真空物理实验室; 出处《真空科学与技术》 CSCD 1993年第1期13-20,共8页; 基金国家教委高校博士点基金; 文摘将一种基于多元统计方法的因子分析法用于俄歇深度剖面分析,采用Ar^+离子轰击Ta_2O_5/Ta样品,俄歇峰采用具有高表面灵敏度和化学态灵敏的NOO俄歇跃迁,用因子分析可得到Ta的三种可区别的不同化学态即Ta、Ta_2O_5和Ta_xO_y,并且能提高探测灵敏度。; 关键词俄歇电子谱法氧化钽钽因子分析; Keywords Factor analysis, Statistical method, Auger electron spectroscopy, Depth profile, Chemical states; 分类号 O614.513 [理学—无机化学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名俄歇定量分析基体效应校正因子的获得: 3; 作者杨新菊陆明张强基; 机构复旦大学真空物理实验室中科院北京真空物理实验室; 出处《真空科学与技术》 CSCD 1993年第3期180-185,共6页; 文摘本文探试了一种俄歇定量分析基体效应校正因子获取的新方法。通过测量淀积过程中的俄歇强度——时间曲线,并对此进行拟合,得到定量分析所需的相对背散射因子和相对非弹性碰撞平均自由程。将它们用于合金样品的定量分析,得到了较好的结果。实验表明,非弹性碰撞平均自由程效应的校正和背散射因子的校正对定量分析是同样重要的。; 关键词俄歇电子谱法定量分析合金表面; Keywords Auger quantitative anaysis, Matrix effect correction, Backscattering factor, Inelastic scattering mean free path of electron; 分类号 TG115.337 [金属学及工艺—物理冶金]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名薄膜定量分析中的Auger线型分析方法被引量：2: 4; 作者张庆瑜马腾才; 机构大连理工大学三束材料改性国家重点实验室; 出处《大连理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第2期147-153,共7页; 基金国家自然科学基金; 文摘采用Ａｕｇｅｒ线型分析方法因子分析方法和已知组元强度的定量解谱技术，对电子束辅助Ｎ离子注入Ｓｉ和磁控溅射方法制备的ＴｉＮｘ薄膜的高分辨率俄歇电子能谱（ＡＥＳ），进行了定量分析．; 关键词俄歇电子谱法定量分析线型分析薄膜; Keywords Auger electron spectrometry films quantitative analysis/Auger line shapes analysis; 分类号 O484.5 [理学—固体物理]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名用于软X射线激光实验的铝衰减膜的测量被引量：7: 5; 作者杜杰王珏杜保旗周斌华荫曾陈玲燕; 机构同济大学物理系; 出处《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 1993年第1期81-87,共7页; 文摘对不同方法制备的不同厚度的铝衰减膜,用微机控制α测厚仪测量了膜的质量厚度以及膜厚均匀性,用Auser电子能谱(AES)对铝膜进行了组分的表面和深度分布分析,根据铝KLL Auger特征谱揭示了氧化膜的化学组分并测量了氧化膜厚度随放置时间的变化,还讨论了膜中其它杂质含量的上限。; 关键词 X射线激光膜衰减膜俄歇电子谱法; Keywords aluminium attenuation foil, mass thickness, A12O, , Auger Electron Spectroscopy (AES).; 分类号 TN241 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名微通道板表面发雾的AES分析被引量：2: 6; 作者刘术林张继胜张海峰赵俊; 机构西安应用光学研究所中国船舶工业总公司七二五所; 出处《应用光学》 CAS CSCD 1993年第6期25-29,共5页; 文摘应用俄歇电子能谱对微通道板表面发雾区域进行分析。分析结果表明,发雾区碳含量比正常区高三倍。由此可推测出,发雾是由碳污染引起的,而这种碳污染很可能是残留于微通道板上的某些有机物在烧氢时碳化所致。; 关键词微通道板碳污染俄歇电子谱法; Keywords Auger electron spectroscopy microchannel plate carbon contamination; 分类号 TN223 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名GaP低阻欧姆接触层的AES和SIMS分析: 7; 作者张福甲李宝军卓肇龙; 机构兰州大学物理系; 出处《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第3期247-252,共6页; 基金甘肃省自然科学基金; 文摘本文用AES和SIMS分析讨论了p-GaP与三层金属膜Pd/Zn/Pd形成良好欧姆接触层的性质.; 关键词欧姆接触俄歇电子谱法质谱法; Keywords Pd-basod ohmic contacts for p-type GaP Auger electron spectroscopy secondary ion mass spectroscopy; 分类号 TN307 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	快速付里叶变换在俄歇电子能谱数据分析中的应用	龚彬	《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心	1992	0	在线阅读下载PDF 职称材料
2	因子分析法在Ta_2O_5/Ta俄歇深度剖析上的应用	李敏张强基	《真空科学与技术》 CSCD	1993	2	在线阅读下载PDF 职称材料
3	俄歇定量分析基体效应校正因子的获得	杨新菊陆明张强基	《真空科学与技术》 CSCD	1993	0	在线阅读下载PDF 职称材料
4	薄膜定量分析中的Auger线型分析方法	张庆瑜马腾才	《大连理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心	1997	2	在线阅读下载PDF 职称材料
5	用于软X射线激光实验的铝衰减膜的测量	杜杰王珏杜保旗周斌华荫曾陈玲燕	《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD	1993	7	在线阅读下载PDF 职称材料
6	微通道板表面发雾的AES分析	刘术林张继胜张海峰赵俊	《应用光学》 CAS CSCD	1993	2	在线阅读下载PDF 职称材料
7	GaP低阻欧姆接触层的AES和SIMS分析	张福甲李宝军卓肇龙	《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心	1993	0	在线阅读下载PDF 职称材料