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一种基于MEMS体硅工艺的三维集成T/R模块 被引量:14
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作者 王清源 吴洪江 +1 位作者 赵宇 赵永志 《半导体技术》 CAS 北大核心 2021年第4期300-304,336,共6页
采用微电子机械系统(MEMS)体硅三维异构集成技术,设计了一种应用于雷达的四通道瓦片式三维集成T/R模块。该模块由三层硅基封装堆叠而成,每层硅基封装内部腔体异构集成多个单片微波集成电路(MMIC),内部采用硅通孔(TSV)实现互连,层间通过... 采用微电子机械系统(MEMS)体硅三维异构集成技术,设计了一种应用于雷达的四通道瓦片式三维集成T/R模块。该模块由三层硅基封装堆叠而成,每层硅基封装内部腔体异构集成多个单片微波集成电路(MMIC),内部采用硅通孔(TSV)实现互连,层间通过焊球互连。模块最终尺寸为8 mm×8 mm×3.5 mm。装配完成后对该模块进行测试,测试结果表明,在34~36 GHz内,模块的饱和发射功率为21 dBm,单通道发射增益达到21 dB,接收增益为23 dB,接收噪声系数小于3.5 dB,同时具备6 bit数控移相和5 bit数控衰减等功能。该模块在4个通道高密度集成的基础上实现了较高的性能。 展开更多
关键词 微系统 微电子机械系统(mems)工艺 T/R前端 三维异构集成 通孔(TSV)
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基于体硅MEMS工艺的基片集成波导双工器 被引量:2
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作者 陆宇 《半导体技术》 CAS 北大核心 2020年第9期690-695,共6页
基于体硅微电子机械系统(MEMS)工艺,采用多层基片集成波导(SIW)谐振腔的垂直堆叠耦合结构研制了一款工作在K/Ka波段的SIW双工器。实测结果表明:在K波段的接收通带内,该双工器插入损耗小于1.8 dB,带内回波损耗小于-15 dB;在Ka波段的发射... 基于体硅微电子机械系统(MEMS)工艺,采用多层基片集成波导(SIW)谐振腔的垂直堆叠耦合结构研制了一款工作在K/Ka波段的SIW双工器。实测结果表明:在K波段的接收通带内,该双工器插入损耗小于1.8 dB,带内回波损耗小于-15 dB;在Ka波段的发射通带内,其插入损耗小于2 dB,带内回波损耗小于-12 dB;收/发隔离度大于50 dB,实测结果与仿真结果较吻合。该体硅MEMS SIW双工器体积仅为5.8 mm×4.4 mm×1.0 mm,在满足性能指标要求的同时实现了小型化且易于与微波、毫米波系统集成。该双工器的收/发输入、输出端口为异面结构,能够实现收/发信号的全双工垂直传输,符合目前瓦片式相控阵天线中信号的传输特点,具有良好的应用前景。 展开更多
关键词 微电子机械系统(mems) 基片集成波导(SIW) 双工器 K/Ka波段 小型化
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SiTime欲借硅MEMS时钟全面替代石英晶振
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作者 李明骏 《集成电路应用》 2011年第12期30-31,共2页
不断提高芯片集成度减少外围器件是半导体业界追求的目标,但传统晶体振荡器由于采用石英为原料一直无法与硅器件集成在一起,而全硅MEMS时钟的出现或将彻底改变这一局面。
关键词 石英晶振 mems 器件 时钟 芯片集成 振荡器 半导 外围器件
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MEMS微波谐振器 被引量:1
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作者 朱健 郁元卫 +1 位作者 张勇 贾世星 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期390-390,共1页
关键词 微波谐振器 mems 南京电子器件研究所 单片集成 微机械工艺 衬底 波导
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高性能微惯性器件单片集成技术 被引量:1
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作者 张照云 施志贵 +1 位作者 张慧 彭勃 《太赫兹科学与电子信息学报》 2014年第4期622-626,共5页
讨论了高性能微惯性器件单片集成技术。首先对单片集成MEMS技术的优势及面临的困难进行了讨论,并对目前主流的单片集成MEMS技术特点、工艺流程进行了介绍,最后,给出高性能微惯性器件单片集成技术的未来发展趋势。
关键词 微机电系统 单片集成 微惯性器件 表面微机械加工 微机械加工
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深硅刻蚀实现3D集成封装 被引量:1
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作者 Dave Thomas 《集成电路应用》 2007年第4期52-53,共2页
Sematech在2004年提出,光靠改变互连的工艺和材料还不足以满足下一代IC的性能要求,同时预测所需的推动力可能来自于不同种类器件的混合集成。目前,各大器件制造商和封装厂都在积极研发晶圆级封装技术,以满足未来器件小型化和更多功... Sematech在2004年提出,光靠改变互连的工艺和材料还不足以满足下一代IC的性能要求,同时预测所需的推动力可能来自于不同种类器件的混合集成。目前,各大器件制造商和封装厂都在积极研发晶圆级封装技术,以满足未来器件小型化和更多功能的要求。 展开更多
关键词 功率器件 集成封装 封装技术 3D结构 制造商 mems 刻蚀 通孔
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C波段横向激励薄膜体声波谐振器设计与制备
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作者 吴高米 马晋毅 +5 位作者 李尚志 司美菊 唐小龙 蒋世义 江洪敏 张祖伟 《压电与声光》 CAS 北大核心 2024年第3期285-289,共5页
针对未来移动通信对射频前端器件提出的多频率、高集成新要求,开展了兼具声表面波(SAW)谐振器和薄膜体声波谐振器(FBAR)技术特点的新型横向激励兰姆波谐振器研究。该文介绍了基于c轴择优取向氮化铝(AlN)压电薄膜的C波段横向激励薄膜体... 针对未来移动通信对射频前端器件提出的多频率、高集成新要求,开展了兼具声表面波(SAW)谐振器和薄膜体声波谐振器(FBAR)技术特点的新型横向激励兰姆波谐振器研究。该文介绍了基于c轴择优取向氮化铝(AlN)压电薄膜的C波段横向激励薄膜体声波谐振器(XBAR)的结构设计、参数优化和制备方法,并进行了工艺验证。通过剥离和刻蚀等步骤制备了谐振频率4.464 GHz、品质因数3039、品质因数与频率之积(f×Q)达到1.56×10^(13)GHz、面积小于0.12 mm^(2)的低杂波XBAR谐振器,并仿真分析了其用于射频滤波器的可行性。该研究为进一步研制多频率、高集成的小型化XBAR滤波器组件提供了有效的设计技术和工艺技术支撑。 展开更多
关键词 压电微机电系统(mems)器件 C波段射频滤波器 横向激励薄膜声波谐振器(XBAR) 多频率 集成
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高深宽比深隔离槽的刻蚀技术研究 被引量:3
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作者 朱泳 闫桂珍 +1 位作者 王成伟 王阳元 《微纳电子技术》 CAS 2003年第7期113-115,共3页
体硅集成MEMS器件中的一个非常重要的技术就是微结构与电路部分的电隔离和互连。由于体硅工艺与传统CMOS工艺不兼容 ,所以形成高深宽比的深隔离槽 (宽约 3μm ,深 2 0~ 10 0μm)是体硅集成中急待解决的工艺难题。本文采用MEMS微加工的D... 体硅集成MEMS器件中的一个非常重要的技术就是微结构与电路部分的电隔离和互连。由于体硅工艺与传统CMOS工艺不兼容 ,所以形成高深宽比的深隔离槽 (宽约 3μm ,深 2 0~ 10 0μm)是体硅集成中急待解决的工艺难题。本文采用MEMS微加工的DRIE (DeepReactiveIonEtching)技术、热氧化技术和多晶硅填充技术 ,形成了高深宽比的深电隔离槽 (宽 3.6 μm ,深 85μm)。还提出了一种改变深槽形状的方法 ,使深槽的开口变大 ,以利于多晶硅的填充 。 展开更多
关键词 高深宽比 深隔离槽 刻蚀技术 体硅集成mems器件 电隔离 微电子机械系统
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SOI-21世纪VLSI的高端技术
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作者 李智群 王志功 《中国集成电路》 2002年第12期61-64,共4页
概述体硅CMOS(bulk CMOS)技术在近20年获得了飞速发展,成为VLSI的主流技术。CMOS集成电路的特征尺寸正在向深亚微米发展,0.18μm
关键词 器件 超大规模集成电路 电路 主流技术 短沟道效应 微处理器 效应 等比例缩小 低电压 凹陷沟道
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