在原子力显微镜(Atomic force microscope,AFM)基础上发展起来的扫描探针显微术(Scanning probe microscope,SPM)已成为推动当今纳米科学发展的最重要技术,综述了在商用AFM平台上所发展的超高分辨压电响应力显微术(PFM)、低频高分辨扫...在原子力显微镜(Atomic force microscope,AFM)基础上发展起来的扫描探针显微术(Scanning probe microscope,SPM)已成为推动当今纳米科学发展的最重要技术,综述了在商用AFM平台上所发展的超高分辨压电响应力显微术(PFM)、低频高分辨扫描探针声学显微术(SPAM)、三倍频双探针扫描热学显微术(3ω-STh M)等先进扫描探针显微术的工作原理及其应用研究,显示了该先进扫描探针显微术在纳米结构及其与外场互作用的机电、弹性、热学、热电等综合物理特性原位表征的重要潜力。展开更多
TH742 94043045微观形貌扫描隧道显微镜检测的性能分析=Onmicrotopography detection with a scanningtunneling microscope[刊,中]/李尚平,张鸿海,孙桂静,陈日曜(华中理工大学机械工程一系)∥华中理工大学学报.—1994,22(2).—54～59...TH742 94043045微观形貌扫描隧道显微镜检测的性能分析=Onmicrotopography detection with a scanningtunneling microscope[刊,中]/李尚平,张鸿海,孙桂静,陈日曜(华中理工大学机械工程一系)∥华中理工大学学报.—1994,22(2).—54～59对自行研制的双功能扫描隧道显微镜(STM)的性能特点进行了研究,探讨了影响其纵。展开更多
基金National High-Technology Research &Development Program of China (2007AA03Z330)National Key Development Programfor Basic Research of China(2009CB623305)+3 种基金Foundation for Innovative Research Groups of the National Natural ScienceFoundation of China (50821004)National Science Foundation of China (1077411310876041)Nanotechnology Project of Shanghai Science and Technology Committee (0852nm06900)
文摘TH742 94043045微观形貌扫描隧道显微镜检测的性能分析=Onmicrotopography detection with a scanningtunneling microscope[刊,中]/李尚平,张鸿海,孙桂静,陈日曜(华中理工大学机械工程一系)∥华中理工大学学报.—1994,22(2).—54～59对自行研制的双功能扫描隧道显微镜(STM)的性能特点进行了研究,探讨了影响其纵。
