深亚微米工艺下SoC多点温度低功耗测试调度方法 被引量：2

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作者 焦铬 范双南 《电子测量技术》 2015年第7期67-70,共4页

在深亚微米技术实现的片上系统中,为了解决由于制程变异引起的温度不确定性,提出了一种多点温度测量的SoC低功耗测试调度方法。该方法采取在芯片中内建多个温度传感器,通过内建的温度传感器来感应温度,在SoC的核心部位进行多点采集,取... 在深亚微米技术实现的片上系统中,为了解决由于制程变异引起的温度不确定性,提出了一种多点温度测量的SoC低功耗测试调度方法。该方法采取在芯片中内建多个温度传感器,通过内建的温度传感器来感应温度,在SoC的核心部位进行多点采集,取温度的最高值反馈到控制系统,进行温度的调节控制。在测试过程中,在温度、功耗和总线带宽都满足条件的情况下进行调度,避免出现由制程变异引起的芯片局部过热的现象。在ITC’02基准电路上的实验结果表明,与文献[2]比较,该方法在保证芯片热安全的同时,使CPU使用时间平均多减少10.33%,使测试应用时间平均多减少11.14%。 展开更多

关键词 深亚微米工艺 多点温度 片上系统 低功耗测试调度

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龙芯3号多核处理器的低功耗测试技术 被引量：2

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作者 齐子初 刘慧 +1 位作者 石小兵 韩银和 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2010年第11期2021-2028,2036,共9页

龙芯3号是一款低功耗处理器芯片,要求测试时保持较低功耗.为了解决低功耗测试的问题,对龙芯3号测试功耗进行了细致分析,提出一套考虑测试时间和测试开销的低功耗测试方案,并对整套方案中的各种技术在功耗、面积、时延以及测试时间等方... 龙芯3号是一款低功耗处理器芯片,要求测试时保持较低功耗.为了解决低功耗测试的问题,对龙芯3号测试功耗进行了细致分析,提出一套考虑测试时间和测试开销的低功耗测试方案,并对整套方案中的各种技术在功耗、面积、时延以及测试时间等方面进行了详细分析.针对龙芯3号测试功耗主要消耗在逻辑电路的翻转和测试时钟网络上的特点,采用IP级测试分割技术减少逻辑电路和时钟网络的翻转;采用门控时钟对局部扫描触发器进行控制减少单核扫描捕获期间的逻辑翻转,并采用了阻隔门技术、不关心位(X位)填充技术减少单核扫描移位的逻辑翻转.实验结果表明,龙芯3号4核处理器达到了预定小于15W的测试平均功耗需求,单个IP核最大平均功耗降低为6W左右,约是正常功能平均功耗的40%,有效地保证了芯片的测试质量. 展开更多

关键词 低功耗测试 微处理器测试 多核微处理器测试 基于IP的测试

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扫描位移过程中低功耗测试的设计与实现

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作者 李尤鹏 纪元法 +1 位作者 肖有军 雷鹏 《半导体技术》 CAS 北大核心 2023年第11期1012-1019,共8页

针对扫描位移功耗过高带来的生产成本增加、良率降低的问题,提出采用时钟相位调整技术和逻辑阻隔技术相组合的方式来降低测试功耗。利用布局布线之后的时钟偏差和物理位置等信息对时钟相位进行调整,从而降低峰值功耗;通过寄存器输出端... 针对扫描位移功耗过高带来的生产成本增加、良率降低的问题,提出采用时钟相位调整技术和逻辑阻隔技术相组合的方式来降低测试功耗。利用布局布线之后的时钟偏差和物理位置等信息对时钟相位进行调整,从而降低峰值功耗;通过寄存器输出端的扇出数量来决定阻隔逻辑电路插入点,从而降低平均功耗。将该方案应用于实际项目中,从面积、覆盖率、功耗角度分析了时钟相位调整技术和逻辑阻隔技术的特点。结果表明,在面积和覆盖率影响较小的情况下,采用两种技术组合后扫描位移的峰值功耗降低了73.24%,平均功耗降低了6.78%。该方案具有良好的实用性,可为大规模集成电路低功耗可测性设计提供参考。 展开更多

关键词 扫描测试 低功耗测试 位移功耗 时钟相位调整 阻隔逻辑电路

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是德科技低功耗分析解决方案助力工程师洞察关键应用的特征 为设计工程师提供新能源、汽车和医疗设备的精确低功耗测试

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《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2016年第11期1779-1779,共1页

新闻要点： 最大限度延长电池续航时间,减少电源故障对新能源、汽车和医疗等设备应用的影响。

关键词 医疗设备 设计工程师 新能源 低功耗测试 功耗分析 应用 汽车 特征

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是德科技中标福州物联网开放实验室窄带物联网低功耗测试系统以及射频一致性测试系统

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《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2018年第3期25-25,共1页

芯片、模块和终端厂商可以验证并优化其产品在各种不同工作状态和部署场景下的实际功耗情况以及射频性能是德科技(NYSE:KEYS)日前宣布,其窄带物联网低功耗测试系统和射频一致性测试系统中标福州物联网开放实验室,将用于窄带物联网(NB-I... 芯片、模块和终端厂商可以验证并优化其产品在各种不同工作状态和部署场景下的实际功耗情况以及射频性能是德科技(NYSE:KEYS)日前宣布,其窄带物联网低功耗测试系统和射频一致性测试系统中标福州物联网开放实验室,将用于窄带物联网(NB-IoT)各阶段产品的功耗验证以及射频性能的一致性验证。该解决方案基于UXM E7515A窄带物联网基站模拟器的综合测试平台。 展开更多

关键词 物联网 开放实验室 低功耗测试 射频一致性测试

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一种低功耗双重测试数据压缩方案 被引量：6

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作者 陈田 易鑫 +3 位作者 王伟 刘军 梁华国 任福继 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第6期1382-1388,共7页

随着集成电路制造工艺的发展,VLSI(Very Large Scale Integrated)电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输入精简技术对原测试集进行预处理,以减少测试... 随着集成电路制造工艺的发展,VLSI(Very Large Scale Integrated)电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输入精简技术对原测试集进行预处理,以减少测试集中的确定位数量,之后再进行第一级压缩,即对测试向量按多扫描划分为子向量并进行相容压缩,压缩后的测试向量可用更短的码字表示;接着再对测试数据进行低功耗填充,先进行捕获功耗填充,使其达到安全阈值以内,然后再对剩余的无关位进行移位功耗填充;最后对填充后的测试数据进行第二级压缩,即改进游程编码压缩.对ISCAS89基准电路的实验结果表明,本文方案能取得比golomb码、FDR码、EFDR码、9C码、BM码等更高的压缩率,同时还能协同优化测试时的捕获功耗和移位功耗. 展开更多

关键词 测试向量相容 低功耗测试 测试数据压缩 双重压缩

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基于Viterbi的低功耗确定性测试方案 被引量：2

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作者 陈田 易鑫 +4 位作者 郑浏旸 王伟 梁华国 任福继 刘军 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2016年第5期821-829,共9页

随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻... 随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以增加测试立方中的X位为目标进行分段相容编码,将填充后的大量确定位重新编码为X位,从而提高Viterbi压缩中种子的编码效率;最后利用Viterbi算法压缩编码后的测试立方集.整体方案以分段相容编码思想为基础,建立了一个协同解决测试压缩和测试功耗问题的测试流程.实验结果表明,文中方案不仅能取得较好的测试数据压缩率,减少测试存储量,而且能够有效地降低测试功耗,平均功耗降低53.3%. 展开更多

关键词 低功耗测试 测试数据压缩 分段相容编码 VITERBI算法

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基于MEMS压阻传感器的低功耗高过载测试系统设计 被引量：5

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作者 韩帅 马游春 +2 位作者 秦丽 王悦凯 丁宁 《爆炸与冲击》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第5期721-727,共7页

为了检验弹体在高冲击环境下的工作情况,提出了一种基于压阻传感器的高过载、低功耗的测试系统设计方案。该系统可承受2×105 g的过载冲击测试,且具有采样率高、体积小、功耗低的特点。通过打靶实验验证:在过载测试过程中该系统具... 为了检验弹体在高冲击环境下的工作情况,提出了一种基于压阻传感器的高过载、低功耗的测试系统设计方案。该系统可承受2×105 g的过载冲击测试,且具有采样率高、体积小、功耗低的特点。通过打靶实验验证:在过载测试过程中该系统具有承受高冲击的能力,并能精确地采集到信号微弱变化,保证了弹体在飞行中记录数据的准确性。 展开更多

关键词 爆炸力学 低功耗随弹测试系统 高冲击 压阻式微加速度计

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降低最大距离测试码输入功耗研究

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作者 张鼎 徐拾义 《计算机工程与应用》 CSCD 2014年第8期31-34,107,共5页

伪随机测试在数字系统的故障测试中已经得到了多年的应用,但传统的伪随机测试存在着效率比较低的缺陷。针对该缺陷提出了在伪随机测试方法中引入测试码之间距离的概念。根据测试码之间距离越大,能检测到不同故障的数目概率也越大的假设... 伪随机测试在数字系统的故障测试中已经得到了多年的应用,但传统的伪随机测试存在着效率比较低的缺陷。针对该缺陷提出了在伪随机测试方法中引入测试码之间距离的概念。根据测试码之间距离越大,能检测到不同故障的数目概率也越大的假设,基于测试码之间距离的随机测试法(简称基于距离测试法)可以生成一组测试码序列。但是由于基于距离测试法所生成的测试码相邻间距离的变大,将造成相邻输入码之间的跳变次数增多,使得输入测试码时所需要的功耗急剧增大。针对该情况,提出对伪随机测试法生成的测试码输入顺序进行重新排序和调整的概念,从而达到降低测试功耗的最终目标。 展开更多

关键词 伪随机测试 最大距离测试 预定距离测试 低功耗测试 生成矩阵

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一种基于轮流扫描捕获的低功耗低费用BIST方法

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作者 王伟征 邝继顺 +1 位作者 尤志强 刘鹏 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2012年第4期864-872,共9页

过高的测试功耗和过长的测试应用时间是基于伪随机内建自测试(BIST)的扫描测试所面临的两大主要问题.提出了一种基于扫描子链轮流扫描捕获的BIST方法.在提出的方法中,每条扫描链被划分成N(N>1)条子链,使用扫描链阻塞技术,同一时刻每... 过高的测试功耗和过长的测试应用时间是基于伪随机内建自测试(BIST)的扫描测试所面临的两大主要问题.提出了一种基于扫描子链轮流扫描捕获的BIST方法.在提出的方法中,每条扫描链被划分成N(N>1)条子链,使用扫描链阻塞技术,同一时刻每条扫描链中只有一条扫描子链活跃,扫描子链轮流进行扫描和捕获,有效地降低了扫描移位和响应捕获期间扫描单元的翻转频率.同时,为检测抗随机故障提出了一种适用于所提出测试方法的线性反馈移位寄存器(LFSR)种子产生算法.在ISCAS89基准电路上进行的实验表明,提出的方案不但降低约(N-1)?N的平均功耗和峰值功耗,而且显著地减少随机测试的测试应用时间和LFSR重播种的种子存储量. 展开更多

关键词 内建自测试 全扫描测试 可测性设计 低功耗测试 低成本测试 LFSR重播种

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环形链轮询复用测试端口的高效测试结构

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作者 张玲 邝继顺 《计算机应用》 CSCD 北大核心 2021年第7期2156-2160,共5页

测试结构设计是集成电路(IC)测试的基础问题也是关键问题,而设计满足当代IC需求的测试结构对降低芯片成本、提高产品质量、增加产品竞争力具有十分重要的意义,为此提出了环形链轮询复用测试端口的测试结构RRR Scan。该结构将扫描触发器... 测试结构设计是集成电路(IC)测试的基础问题也是关键问题,而设计满足当代IC需求的测试结构对降低芯片成本、提高产品质量、增加产品竞争力具有十分重要的意义,为此提出了环形链轮询复用测试端口的测试结构RRR Scan。该结构将扫描触发器设计成多个环形链,环形链可工作于隐身模式、循环移位模式和直链扫描模式。循环移位模式实现了测试数据的重用,可减小测试集规模;隐身模式则可缩短测试数据移位路径,大幅降低测试移位功耗,因此该结构是具有数据重用和低功耗性质的通用测试结构。另外,该结构可将物理上相近的扫描单元设置于同一环形链内,布线代价不大。隐身模式使得测试数据的移位路径长度和时延均有所减小。实验结果表明,RRR Scan结构可大幅降低测试移位功耗,对于S13207电路,其移位功耗仅为扫描直链的0.42%。 展开更多

关键词 集成电路测试 可测试性设计 扫描结构 低功耗测试 数据重用

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一种基于哑元的扩展相容性扫描树方法

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作者 刘先霞 高清华 +1 位作者 文俊 尤志强 《湖南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第11期74-78,共5页

尽管扩展相容性扫描树技术可以彻底地降低测试应用时间和平均测试功耗,扫描输出的个数却大大增加.这使得测试响应的数据量增加,从而为测试响应压缩带来困难.本文提出一种基于哑元的扩展相容性扫描树方法.在这种方法里,为了不破坏未移动... 尽管扩展相容性扫描树技术可以彻底地降低测试应用时间和平均测试功耗,扫描输出的个数却大大增加.这使得测试响应的数据量增加,从而为测试响应压缩带来困难.本文提出一种基于哑元的扩展相容性扫描树方法.在这种方法里,为了不破坏未移动的扫描单元之间的关系,在移动扫描单元时一些没有实际意义的扫描单元被加进来.此方法有效地降低了电路的扫描输出个数.从而降低了测试响应数据量,节省了许多数据压缩的硬件.实验结果展示了我们的方法在保持改进的扩展相容性方法的优点的同时,扫描输出的个数比原始的扩展相容性方法有显著的降低,对于ISCAS’89的部分电路,扫描输出的个数最大降低了26.0%. 展开更多

关键词 可测性设计 全扫描测试 扫描树 低功耗测试

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基于MSP430单片机的便携式阻抗测量系统 被引量：5

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作者 郭星 崔朗福 +3 位作者 高爽 桑胜波 张文栋 白玉杰 《现代电子技术》 北大核心 2017年第22期152-155,共4页

为了克服现有阻抗测量仪功耗大,体积大,价格高的问题,基于AD5934与MSP430F169设计了一种具有低功耗特性的便携式阻抗测量系统。采用超低功耗的MSP430F169作为主控芯片,通过I2C总线控制基于AD5934的阻抗测量模块完成阻抗的测量,并通过LC... 为了克服现有阻抗测量仪功耗大,体积大,价格高的问题,基于AD5934与MSP430F169设计了一种具有低功耗特性的便携式阻抗测量系统。采用超低功耗的MSP430F169作为主控芯片,通过I2C总线控制基于AD5934的阻抗测量模块完成阻抗的测量,并通过LCD液晶屏显示测量结果。RLC串联回路和R||C电路测量实验表明:该系统能精确测量待测物的阻抗值,并可测其共振频率,相对误差低至0.04%。该系统在功耗和便携性方面实现了创新,与传统的阻抗测试仪相比具有体积小、功耗低、精度高、成本低等优点,可广泛应用于普通电阻电容、水电导率、生物复阻抗等测量。 展开更多

关键词 便携式阻抗测量 低功耗阻抗测试仪 AD5934 MSP430F169

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