期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
金刚石单晶中的位错及其对器件影响的研究进展
1
作者 韩赛斌 胡秀飞 +7 位作者 王英楠 王子昂 张晓宇 彭燕 葛磊 徐明升 徐现刚 冯志红 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第20期33-46,共14页
金刚石是超宽禁带半导体材料的代表之一,具有禁带宽度大、热导率高、载流子迁移率高、电子饱和漂移速度快、抗辐射性能好等优异性质,在功率器件、量子信息、辐射探测等高科技领域的应用越来越广泛。然而,与其他成熟的半导体材料如Si的... 金刚石是超宽禁带半导体材料的代表之一,具有禁带宽度大、热导率高、载流子迁移率高、电子饱和漂移速度快、抗辐射性能好等优异性质,在功率器件、量子信息、辐射探测等高科技领域的应用越来越广泛。然而,与其他成熟的半导体材料如Si的零位错、SiC的螺位错(TSD)低于10^(2)cm^(-2)相比,金刚石单晶的位错密度处于10^(3)~10^(8)cm^(-2),这是其器件性能未能充分发挥的原因之一。研究位错机理和降低位错也是现阶段金刚石研究的热点之一。本文汇总分析了金刚石单晶中位错的主要类型和位错产生原因,重点讨论了金刚石位错的表征技术、位错密度降低方法以及位错的存在对不同器件性能的影响,最后总结了金刚石当前所面临的机遇和挑战,并展望了金刚石未来发展方向。 展开更多
关键词 金刚石 位错 位错检测技术 位错密度降低方法 缺陷
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部