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基于输入向量控制和传输门插入的电路NBTI老化缓解
1
作者
胡林聪
易茂祥
+3 位作者
丁力
朱炯
刘小红
梁华国
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
北大核心
2018年第1期55-59,75,共6页
针对现有方案通过输入向量控制(input vector control,IVC)结合门替换(gate replacement,GR)技术缓解负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)引起的电路老化,存在GR应用可能破坏IVC抗老化效果的问题,文章提出...
针对现有方案通过输入向量控制(input vector control,IVC)结合门替换(gate replacement,GR)技术缓解负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)引起的电路老化,存在GR应用可能破坏IVC抗老化效果的问题,文章提出了一种基于IVC和传输门(transmission gate,TG)插入的抗NBTI老化方案。将目标电路切分为多个逻辑锥子电路,然后对各子电路进行动态回溯得到其最优输入控制向量,在恢复各子电路的连接时,通过插入TG消除连线位置出现的逻辑冲突,最后得到由子电路合并后的目标电路的最优输入控制向量。采用相同条件的实验结果表明,与现有方案相比,本文方案提高了电路平均时延退化改善率超过1倍,且面积开销和电路固有时延也明显降低,更好地缓解了电路老化效应。
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关键词
负偏置温度不稳定性(NBTI)
老化
输入向量控制(IVC)
传输
门
(
tg
)
插入
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职称材料
题名
基于输入向量控制和传输门插入的电路NBTI老化缓解
1
作者
胡林聪
易茂祥
丁力
朱炯
刘小红
梁华国
机构
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
出处
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
北大核心
2018年第1期55-59,75,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(61371025
61474036
61574052)
文摘
针对现有方案通过输入向量控制(input vector control,IVC)结合门替换(gate replacement,GR)技术缓解负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)引起的电路老化,存在GR应用可能破坏IVC抗老化效果的问题,文章提出了一种基于IVC和传输门(transmission gate,TG)插入的抗NBTI老化方案。将目标电路切分为多个逻辑锥子电路,然后对各子电路进行动态回溯得到其最优输入控制向量,在恢复各子电路的连接时,通过插入TG消除连线位置出现的逻辑冲突,最后得到由子电路合并后的目标电路的最优输入控制向量。采用相同条件的实验结果表明,与现有方案相比,本文方案提高了电路平均时延退化改善率超过1倍,且面积开销和电路固有时延也明显降低,更好地缓解了电路老化效应。
关键词
负偏置温度不稳定性(NBTI)
老化
输入向量控制(IVC)
传输
门
(
tg
)
插入
回溯
Keywords
negative bias temperature instability(NBTI)
aging
input vector control(IVC)
transmission gate(
tg
)insertion
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分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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出处
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1
基于输入向量控制和传输门插入的电路NBTI老化缓解
胡林聪
易茂祥
丁力
朱炯
刘小红
梁华国
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
北大核心
2018
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