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题名传输线脉冲发生器电压探测中振荡问题的研究
被引量：1
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作者
曾传滨
李晶
王显泰
海潮和
韩郑生
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机构
中国科学院微电子研究所
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第4期365-369,共5页
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文摘
对传输线脉冲发生器电压探测中的振荡问题进行了研究。通过减小电压探头的寄生电感克服了振铃问题,通过缩短电压探头和待测器件之间的传输段传输线长度降低了探头处实际承受的上冲电压,从而有效地抑制了传输线脉冲发生器电压探测中的振荡问题,提高了测试的准确性,并在国内率先制造出了波形质量达到国际先进水平的传输线脉冲发生器。
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关键词
静电放电
传输线脉冲发生器
振铃
上冲
电压探测
电压波形
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Keywords
ESD
TLP
tinging
overshoot
voltage probe
voltage waveform
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名采用容性封装技术提高ESD防护性能研究
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作者
曾传滨
海潮和
李晶
李多力
韩郑生
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机构
中国科学院微电子研究所
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第9期876-880,共5页
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文摘
提出了一种通过在电源线与地线之间加入外部电容以吸收ESD脉冲的新型集成电路ESD保护方法。分析了这种方法在提高产品ESD防护性能方面的可行性,并用TLP设备测量出了一0.1μF电容在吸收4A TLP ESD电流脉冲时电容两端电压随时间的变化曲线以及不同电容值电容吸收4A TLP ESD电流脉冲后的电压随电容变化曲线,理论分析及测试结果均表明这种ESD防护方法能在集成电路承受6000V HBM ESD脉冲时将VDD与GND之间的电压降钳位在0.5V以下。通过将此ESD防护方法应用在SOI微处理器产品和SOI静态随机存储器产品上,成功地将这两款产品的ESD防护能力从1000V提高到了3000V以上,验证了这种容性封装技术在ESD防护方面的优良性能。
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关键词
静电放电
电容
封装
传输线脉冲发生器
钳位电路
集成电路
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Keywords
ESD
capacitor
package
TLP
CLAMP
integrated circuit
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分类号
TN305.94
[电子电信—物理电子学]
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