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基于快速面探测方法的碳化硅表面残余应力测量
被引量：
2
1
作者
闫帅
林彬
陈经跃
《金刚石与磨料磨具工程》
CAS
北大核心
2018年第6期80-85,共6页
陶瓷加工后表面残余应力的测量通常采用一维X射线衍射线探测法,该方法存在测量过程烦琐、效率低、成本高等问题,因此采用新型快速二维面探测X射线衍射残余应力测量方法,对碳化硅陶瓷表面的残余应力进行测量,实验中测量了3种不同品牌碳...
陶瓷加工后表面残余应力的测量通常采用一维X射线衍射线探测法,该方法存在测量过程烦琐、效率低、成本高等问题,因此采用新型快速二维面探测X射线衍射残余应力测量方法,对碳化硅陶瓷表面的残余应力进行测量,实验中测量了3种不同品牌碳化硅工件的初始表面和抛光后表面的残余应力。结果表明:此新方法单次测量即可获得样品500点的衍射信息,特别适用于陶瓷材料的应力测量。同时还发现:对于被加工表面的残余压应力,抛光加工最高能够消除近80%的残余应力,但不能改变工件的残余应力分布。
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关键词
二维面探测
X射线衍射
陶瓷加工
表面残余应力
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职称材料
题名
基于快速面探测方法的碳化硅表面残余应力测量
被引量：
2
1
作者
闫帅
林彬
陈经跃
机构
天津大学
航空工业自控所
出处
《金刚石与磨料磨具工程》
CAS
北大核心
2018年第6期80-85,共6页
基金
国家自然科学基金(51805366,51875406)
航空科学基金资助(20170748004)
中国博士后科学基金(2016M601259)。
文摘
陶瓷加工后表面残余应力的测量通常采用一维X射线衍射线探测法,该方法存在测量过程烦琐、效率低、成本高等问题,因此采用新型快速二维面探测X射线衍射残余应力测量方法,对碳化硅陶瓷表面的残余应力进行测量,实验中测量了3种不同品牌碳化硅工件的初始表面和抛光后表面的残余应力。结果表明:此新方法单次测量即可获得样品500点的衍射信息,特别适用于陶瓷材料的应力测量。同时还发现:对于被加工表面的残余压应力,抛光加工最高能够消除近80%的残余应力,但不能改变工件的残余应力分布。
关键词
二维面探测
X射线衍射
陶瓷加工
表面残余应力
Keywords
two-dimensional surface detection method
X-ray diffraction
ceramics machining
surface residual stress
分类号
TH16 [机械工程—机械制造及自动化]
TB32 [一般工业技术—材料科学与工程]
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作者
出处
发文年
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1
基于快速面探测方法的碳化硅表面残余应力测量
闫帅
林彬
陈经跃
《金刚石与磨料磨具工程》
CAS
北大核心
2018
2
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