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题名一种分析二维平面左手结构的新方法
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作者
李超
刘开雨
李芳
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机构
中国科学院电子学研究所
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出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第12期2262-2266,共5页
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基金
国家973重点基础研究发展规划项目(No.2004CB719800)
国家自然科学基金(No.60501018)
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文摘
本文提出了一种基于单元结构的四端口网络S参数和周期性结构的Bloch理论来分析二维平面分布参数左手结构的新方法,以及基于Bloch波数和Bloch阻抗来判断左右手特性频带的新方法.与以往的单元结构分析方法相比,本文方法有利于单元结构的灵活设计,能较好地考虑分布参数元件色散特性,能简便准确地判断出左右手特性频带,且能用于分析各向异性和有损耗结构.作为例子,我们设计了一种串联电容增强型平面左手结构,并用本文方法进行分析,清楚地得到了该结构的左右手特性频带.本文还采用时域有限差分方法(FDTD)对这种新型平面结构阵列进行模拟,在左手特性频带内得到了后向波传播特性,从而验证了本文方法的有效性.
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关键词
二维平面左手结构
S参数
Bloch波数
Bloch阻抗
后向波
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Keywords
planar 2-D left-handed structures
S parameters
Bloch wave number
Bloch impedance
backward wave
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分类号
O44
[理学—电磁学]
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