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题名基于角度交会的二维坐标图像测量系统
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作者
程瑶
许文斌
刘云阳
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机构
重庆理工大学机械工程学院
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出处
《应用光学》
CAS
北大核心
2024年第2期438-445,共8页
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基金
国家自然科学基金(52375526)
重庆市研究生科研创新项目(CYS22653)
+2 种基金
重庆市科委基础与前沿研究一般项目(cstc2016jcyjA0497)
重庆市教委科学技术研究项目(KJQN202301108)
重庆理工大学研究生教育高质量发展项目(gzlcx20232126)。
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文摘
针对基准平面障碍物检测定位问题,设计了一种采用角度交会法测量二维坐标的嵌入式图像检测系统。二维坐标测量系统采用双线法标定线阵CCD图像传感器,并采用角度交会法对被测对象进行坐标计算,从而测得未修正的二维坐标测量结果。采用控制变量法分别测量X轴和Y轴坐标,使用Matlab软件对数据进行处理,并对X轴和Y轴测量误差分别进行多项式线性拟合,进而得到坐标修正公式,修正的二维坐标误差明显变小。实验结果表明:基于角度交会的二维坐标图像测量系统能够实时、准确、快速和可靠地测量二维坐标,为基准平面障碍物二维坐标测量定位提供了一种可行的方案,具有一定的应用价值和意义。
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关键词
线阵CCD
二维坐标测量
角度交会法
MATLAB
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Keywords
linear CCD
two-dimensional coordinate measurement
angle intersection method
Matlab
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分类号
TN29
[电子电信—物理电子学]
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题名几何量微纳米级精密测量技术研究的若干新进展
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作者
叶孝佑
高思田
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机构
中国计量科学研究院
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出处
《计量学报》
CSCD
北大核心
2006年第z1期1-5,共5页
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文摘
介绍了几何量测量领域中微纳米精密测量技术和装置的研究新成果,涉及到一维微纳米级长度和尺寸测量、二维微纳米级坐标测量、三维微坐标测量以及三维微观表面测量.详细介绍了微纳米技术研究中所应用的关键技术的特点、目前的测量水平和能力,提供了最新技术的应用实例.并根据目前微纳米技术的发展状况,从科研和产业两个角度讨论了新型几何量计量仪器的发展和研究趋势.
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关键词
计量学
一维微纳米长度和尺寸测量
二维微纳米坐标测量
三维微坐标测量
三维微观表面测量
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分类号
TB92
[机械工程—测试计量技术及仪器]
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