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用扫描电镜二次电子象观察分析金相组织
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作者 吴建辉 《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第2期41-43,共3页
本文通过扫描电镜观察分析金相组织,并在较低倍数下将同一磨面的扫描电镜照片和金相照片进行了对比,可以看出两者的对应关系。说明在较低倍数下用扫描电镜观察分析金相组织在很多情况下是可行的,并可发挥扫描电镜分辨本领高等优点;但由... 本文通过扫描电镜观察分析金相组织,并在较低倍数下将同一磨面的扫描电镜照片和金相照片进行了对比,可以看出两者的对应关系。说明在较低倍数下用扫描电镜观察分析金相组织在很多情况下是可行的,并可发挥扫描电镜分辨本领高等优点;但由于两者成象原理不同,显现的同一组织会有一定的差别。 展开更多
关键词 扫描电镜 金相组织 二次电子象
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利用背散电子象和金属染色法观察组织和细胞的亚表面结构
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作者 崔新明 栗振宝 《白求恩医科大学学报》 CSCD 1994年第2期205-206,共2页
本研究利用六胺银染液选择性染色方法和背散电子成象技术,在观察粒细胞、淋巴细胞、小肠上皮细胞在面形貌同时,还观察到这些细胞胞核的形态、大小、以及所在细胞内的位置。这些观察结果提示,利用重金属染液选择性的染色和背散电子成... 本研究利用六胺银染液选择性染色方法和背散电子成象技术,在观察粒细胞、淋巴细胞、小肠上皮细胞在面形貌同时,还观察到这些细胞胞核的形态、大小、以及所在细胞内的位置。这些观察结果提示,利用重金属染液选择性的染色和背散电子成象技术,可能是一种在观察组织和细胞表面同时.观察其亚表面结构的新方法。 展开更多
关键词 扫描电镜 二次电子象 背散电子
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DX-5型实验扫描电子显微镜 被引量:1
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作者 刘绪平 姜新力 +1 位作者 王肇佑 范士荣 《仪器仪表学报》 EI CAS 1981年第1期12-17,共6页
本文主要叙述我厂最近试制成的DX-5型扫描电镜的性能,电子光学设计方面的一些考虑。该仪器的二次电子象的分辨率为60A~70A,有较完善的视频信号处理系统,并可配两道X光分光光谱仪一个能谱仪和一个光学显微镜。该仪器是非对称物镜,用通... 本文主要叙述我厂最近试制成的DX-5型扫描电镜的性能,电子光学设计方面的一些考虑。该仪器的二次电子象的分辨率为60A~70A,有较完善的视频信号处理系统,并可配两道X光分光光谱仪一个能谱仪和一个光学显微镜。该仪器是非对称物镜,用通常的对称透镜的计算参数加以修正得到正确的象差系数。物镜磁路用近似场的假设计算。扫描线圈的设计主要在大偏转范围内给出均匀场以减少低放大倍数下的畸变。为了有效的收集二次电子,在样品附近放置一个小电极加上15V~30V的电压。一个意外的噪音来源来之于电子枪附近的背反射电子通过真空管道达探测器。为了实现电子束的合轴,在电子束交叉点附近放置一个电磁对中线圈,加上瓷瓶的精确定位可以方便合轴。文章也叙述了在调试中排除了一些问题后达到60A的分辨率。 展开更多
关键词 扫描电子显微镜 DX-5 二次电子象 光学显微镜 光学设计 分光光谱仪 背反射 扫描线圈 能谱仪 均匀场
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电子光学
4
《中国光学》 EI CAS 1997年第4期97-98,共2页
O463 97042787高分辨扫描电子显微学=High resolution scanning electron microscopy[刊,中]/陈文雄,徐军,张会珍(北京大学.北京(100871))//现代科学仪器.—1996,
关键词 高分辨扫描电子显微学 现代科学仪器 电子光学 北京大学 二次电子象 发射特性 高分辨率 重要意义 试样表面 评述
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扫描离子显微镜的研究 被引量:4
5
作者 薛钰芝 李荣玉 +1 位作者 薛祖庆 陆家和 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 1990年第1期27-32,共6页
扫描离子显微镜-飞行时间质谱仪(即SIM/ToF-SIMS)的研究是表面分析领域的前沿课题。本文叙述了其前半部分,自制SL-1型扫描离子显微镜的原理、设计加工及实验结果。Ga离子束能12keV时,束流1×10^(-9)A、束径达亚微米,并得到ISE及ISI... 扫描离子显微镜-飞行时间质谱仪(即SIM/ToF-SIMS)的研究是表面分析领域的前沿课题。本文叙述了其前半部分,自制SL-1型扫描离子显微镜的原理、设计加工及实验结果。Ga离子束能12keV时,束流1×10^(-9)A、束径达亚微米,并得到ISE及ISI两种象。 展开更多
关键词 离子显微镜 飞行时间质谱仪 束能 SIMS 二次电子象 聚焦离子束 掩模 扫描电子显微镜 衬度 表面分析
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SAM法研究银透过金镀层的表面富集 被引量:2
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作者 李望 展振宗 +6 位作者 景晶 齐芸馨 王改莲 唐文泰 汪美玲 袁保玲 李久安 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 1990年第1期44-48,共5页
基底元素透过镀层于表面富集可使镀层失去作用和意义,导致元、器件失效。对银上镀金样品的SAM法研究结果表明,常温下这种富集主要是基底元素通过缺陷和晶界扩散穿透镀层再行表面扩散而遍及表面的;镀件的表面吸附与表面富集的发生密切相... 基底元素透过镀层于表面富集可使镀层失去作用和意义,导致元、器件失效。对银上镀金样品的SAM法研究结果表明,常温下这种富集主要是基底元素通过缺陷和晶界扩散穿透镀层再行表面扩散而遍及表面的;镀件的表面吸附与表面富集的发生密切相关。文中给出了随时间的推移,银于表面富集情况的清晰的俄歇相。已发展出新的工艺,可以明显地延缓基底元素透过镀层到表面的富集。 展开更多
关键词 表面富集 SAM 表面吸附 金镀层 表面扩散 晶界扩散 镀件 席光康 二次电子象 离子束溅射
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