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题名基于颜色直方图的电路板表面缺陷检测
被引量：3
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作者
仰梓淮
黄海鸿
刘贺
刘赟
李新宇
刘志峰
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机构
合肥工业大学机械工程学院
合肥工业大学机械工业绿色设计与制造重点实验室
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出处
《计算机集成制造系统》
EI
CSCD
北大核心
2024年第7期2296-2305,共10页
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基金
国家重点研发计划资助项目(2019YFC1908002)。
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文摘
为了提高废旧电路板的回收再利用率,针对回收电路板常见表面缺陷,在均匀分块基础上,提出了四叉树分裂颜色直方图缺陷检测方法。该方法能快速定位电路板表面缺陷,并通过支持向量机(SVM)实现缺陷分类,进而为电路板的二次利用提供质量保障。重点分析了分块大小与判断阈值对缺陷定位结果的影响,在保证检测精度的同时,检测速度相比均匀分块方法得到明显提升。与Faster-RCNN网络方法进行对比,结果表明该方法定位效果好,分类准确率平均达81%。
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关键词
机器视觉
二次利用电路板
表面缺陷检测
颜色直方图
四叉树分裂
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Keywords
machine vision
secondary utilization circuit board
surface defect detection
color histogram
quadtree splitting
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分类号
TP391.4
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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