期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
基于Virtex 4 FPGA的全覆盖二倍线内建自测试
被引量：
1
1
作者
董宜平
谢文虎
李光
《电子与封装》
2017年第1期19-23,共5页
随着集成电路技术的发展,高集成度和高复杂度的器件不断出现,大规模集成电路的测试技术成为重要的研究方向。自建内测试方法是一种有效的系统级大规模集成电路FPGA测试方法。提出了一种基于Xilinx公司Virtex-4(V4)系列芯片全覆盖的FPGA...
随着集成电路技术的发展,高集成度和高复杂度的器件不断出现,大规模集成电路的测试技术成为重要的研究方向。自建内测试方法是一种有效的系统级大规模集成电路FPGA测试方法。提出了一种基于Xilinx公司Virtex-4(V4)系列芯片全覆盖的FPGA二倍线内建自测试方法,该方法采用脚本生成Xilinx设计语言(XDL),对V4芯片二倍线进行全局布线,然后进行FPGA配置,施加测试向量,从而对固定故障或者桥接故障进行测试。同时给出了基于XC4VLX100芯片的实际测试结果,验证了该测试方法的正确性。
展开更多
关键词
XDL
内建自测试
测试向量
全局布
线
二倍线
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
基于Virtex 4 FPGA的全覆盖二倍线内建自测试
被引量：
1
1
作者
董宜平
谢文虎
李光
机构
中国电子科技集团公司第
出处
《电子与封装》
2017年第1期19-23,共5页
基金
江苏省自然基金青年基金(BK20160202)
文摘
随着集成电路技术的发展,高集成度和高复杂度的器件不断出现,大规模集成电路的测试技术成为重要的研究方向。自建内测试方法是一种有效的系统级大规模集成电路FPGA测试方法。提出了一种基于Xilinx公司Virtex-4(V4)系列芯片全覆盖的FPGA二倍线内建自测试方法,该方法采用脚本生成Xilinx设计语言(XDL),对V4芯片二倍线进行全局布线,然后进行FPGA配置,施加测试向量,从而对固定故障或者桥接故障进行测试。同时给出了基于XC4VLX100芯片的实际测试结果,验证了该测试方法的正确性。
关键词
XDL
内建自测试
测试向量
全局布
线
二倍线
Keywords
XDL
BIST
test vector
global routing
double lines
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于Virtex 4 FPGA的全覆盖二倍线内建自测试
董宜平
谢文虎
李光
《电子与封装》
2017
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
