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ASIC集成电路的可测性设计与技术实现
被引量：
3
1
作者
韩威
江川
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2009年第4期289-292,共4页
ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路...
ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路的主动侦测与跟踪寻径,经实践证明这些方法大大提高了复杂SOC研制的成功率。
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关键词
SOC
测试
可测性设计
主动测试技术
故障模型
测试
向量自动生成
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职称材料
题名
ASIC集成电路的可测性设计与技术实现
被引量：
3
1
作者
韩威
江川
机构
中国船舶重工集团第
出处
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2009年第4期289-292,共4页
文摘
ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路的主动侦测与跟踪寻径,经实践证明这些方法大大提高了复杂SOC研制的成功率。
关键词
SOC
测试
可测性设计
主动测试技术
故障模型
测试
向量自动生成
Keywords
SOC test, DFT （Design For Testability）, Active test technique, Fault pattern, ATPG （Automatic Test Pattern Generation）
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ASIC集成电路的可测性设计与技术实现
韩威
江川
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2009
3
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