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题名可见光面阵CCD响应非均匀性的检测与校正
被引量：16
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作者
刘妍妍
李国宁
张瑜
李洪祚
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机构
长春理工大学电子信息工程学院
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第5期759-763,共5页
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基金
国家"863"计划基金资助项目(No.863-2-5-1-13B)
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文摘
通过分析可见光面阵CCD的响应非均匀性,提出了一种适用于所有面阵CCD的响应非均匀性检测系统。利用该检测系统对全帧型面阵CCD485进行了辐射定标,建立了面阵CCD485数字图像的灰度值和积分球出口处辐照度之间的响应关系,并描绘了响应度曲线。从定标采集得到的数字图像可以看出灰度值有明显的跳跃,响应非均匀性已经超过了5%,在微光拍照时将严重影响成像的质量,所以必须进行校正。根据面阵CCD响应度曲线来选择非均匀性校正算法,考虑到面阵CCD485的响应度为线性,这里采用了两点校正算法,求出面阵CCD各个像元的校正因子(增益和偏置),并存储到校正矩阵中,通过乘积加法运算把各个像元的信号校正成面阵CCD的平均信号值。实验结果表明,两点校正算法使面阵CCD485的响应非均匀性降低到原来的1/10左右,是一种实用有效的校正方法。
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关键词
面阵CCD
响应度
非均匀性校正
两点校正算法
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Keywords
area CCD； responsibility； non-uniformity correction； two-point correction algorithm；
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分类号
TN386.5
[电子电信—物理电子学]
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