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一种基于两点线性校正的改进算法
被引量:
1
1
作者
朱建
刘贵喜
《科学技术与工程》
2007年第6期1180-1182,共3页
针对传统的两点校正法准确度不高的缺点,提出一种二点多段线性校正的改进算法。这种算法对增益系数和偏移系数重新进行推导,弥补了两点多段校正法中由于校正因子推导带来结果值偏大的不足,并对算法进行了仿真。
关键词
红外焦平面阵列
两点多段校正法
非均匀性
校正
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职称材料
光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究
被引量:
27
2
作者
薛利军
李自田
+3 位作者
李长乐
计忠瑛
崔艳
王忠厚
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期693-696,共4页
分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量·在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有...
分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量·在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有运算量小、准确度高、实用性强的优点·
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关键词
光谱成像仪CCD焦平面
非均匀性
线性
校正
两点多段校正法
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职称材料
空基紫外成像仪关键器件ICCD非均匀性校正技术
被引量:
6
3
作者
王加朋
王淑荣
+1 位作者
李福田
宋克非
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第9期1353-1360,共8页
从理论上分析了ICCD光电响应非均匀性的产生机理,并由此建立光电响应数学模型。基于两点多段非均匀性校正算法给出了ICCD非均匀性校正方程,并通过大量实验得到ICCD在特定条件下的校正系数。在实验过程中发现IC-CD的雪花点(主要由探测器...
从理论上分析了ICCD光电响应非均匀性的产生机理,并由此建立光电响应数学模型。基于两点多段非均匀性校正算法给出了ICCD非均匀性校正方程,并通过大量实验得到ICCD在特定条件下的校正系数。在实验过程中发现IC-CD的雪花点(主要由探测器的随机噪声引起)和盲点是影响非均匀性改善的主要因素,采取相应照度的响应进行了补偿。结果表明:通过补偿和校正输出图像,可以有效地减小紫外成像仪由探测器的非均匀性所带来的测量误差,使非均匀性降低了37.1%,在一定程度上减少了由于ICCD的物理特性和制造缺陷所带来的固有图像噪声。
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关键词
紫外成像仪
ICCD
非均匀性
线性
校正
两点多段校正法
噪声补偿
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职称材料
题名
一种基于两点线性校正的改进算法
被引量:
1
1
作者
朱建
刘贵喜
机构
西安电子科技大学自动控制系
出处
《科学技术与工程》
2007年第6期1180-1182,共3页
文摘
针对传统的两点校正法准确度不高的缺点,提出一种二点多段线性校正的改进算法。这种算法对增益系数和偏移系数重新进行推导,弥补了两点多段校正法中由于校正因子推导带来结果值偏大的不足,并对算法进行了仿真。
关键词
红外焦平面阵列
两点多段校正法
非均匀性
校正
Keywords
IRFPA two - point multi - section method non - uniformity correction
分类号
TN215 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究
被引量:
27
2
作者
薛利军
李自田
李长乐
计忠瑛
崔艳
王忠厚
机构
中国科学院西安光学精密机械研究所
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期693-696,共4页
文摘
分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量·在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有运算量小、准确度高、实用性强的优点·
关键词
光谱成像仪CCD焦平面
非均匀性
线性
校正
两点多段校正法
Keywords
Hyper-spectral imager
CCD
Non-uniformity
Liner correction
Two-point multi-section method
分类号
TP773 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
空基紫外成像仪关键器件ICCD非均匀性校正技术
被引量:
6
3
作者
王加朋
王淑荣
李福田
宋克非
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第9期1353-1360,共8页
基金
国家自然科学基金资助项目(No.40675083)
文摘
从理论上分析了ICCD光电响应非均匀性的产生机理,并由此建立光电响应数学模型。基于两点多段非均匀性校正算法给出了ICCD非均匀性校正方程,并通过大量实验得到ICCD在特定条件下的校正系数。在实验过程中发现IC-CD的雪花点(主要由探测器的随机噪声引起)和盲点是影响非均匀性改善的主要因素,采取相应照度的响应进行了补偿。结果表明:通过补偿和校正输出图像,可以有效地减小紫外成像仪由探测器的非均匀性所带来的测量误差,使非均匀性降低了37.1%,在一定程度上减少了由于ICCD的物理特性和制造缺陷所带来的固有图像噪声。
关键词
紫外成像仪
ICCD
非均匀性
线性
校正
两点多段校正法
噪声补偿
Keywords
ultraviolet imager
Image Intensified Charge Coupled Device(ICCD)
non-uniformity
lin earity correction
two-point multi-section correction method
noise compensation
分类号
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
TN23 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种基于两点线性校正的改进算法
朱建
刘贵喜
《科学技术与工程》
2007
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究
薛利军
李自田
李长乐
计忠瑛
崔艳
王忠厚
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
27
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
空基紫外成像仪关键器件ICCD非均匀性校正技术
王加朋
王淑荣
李福田
宋克非
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
6
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
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