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X射线成像闪烁体光产额测量技术与优化方法 被引量:1
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作者 张誉戈 马舸 +4 位作者 万鹏颖 鲍子臻 欧阳潇 刘林月 欧阳晓平 《发光学报》 北大核心 2025年第4期630-641,共12页
闪烁成像屏是X射线成像技术的核心部件,其光产额的精确测定对于提升成像系统的空间分辨率和推动新型闪烁体的研发具有至关重要的作用。本文首先概述了X射线成像技术的基本原理,随后系统地综述了当前X射线成像闪烁体光产额测量的主要方... 闪烁成像屏是X射线成像技术的核心部件,其光产额的精确测定对于提升成像系统的空间分辨率和推动新型闪烁体的研发具有至关重要的作用。本文首先概述了X射线成像技术的基本原理,随后系统地综述了当前X射线成像闪烁体光产额测量的主要方法。这些方法既包括基于能谱和X射线激发光谱的相对测量法,也涵盖了利用光电倍增管(PMT)和光电二极管(PD)或雪崩光电二极管(APD)的绝对测量法。同时,本文深入剖析了封装与耦合技术、放射源的能量特性与粒子种类、用于光产额测量的光电探测器种类等多种因素对光产额测量结果可能产生的潜在影响。另外,本文提出了一种基于光收集系数修正的绝对光产额测量方法。该方法有效地结合了利用PMT和PD的绝对法测量的优势,不仅能够实现大范围光产额测量,覆盖百光子量级的光输出,还保持了5%的低测量不确定度。 展开更多
关键词 闪烁成像屏 光产额 测量方法 不确定度优化
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