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一种三维SoCs绑定前的测试时间优化方法
被引量：
12
1
作者
欧阳一鸣
刘蓓
梁华国
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2011年第2期164-169,共6页
提出了一种在引脚和功耗限制下3D SoCs的绑定前测试方法。对IP核细粒度划分,将每个IP核的触发器数均衡分布到各层芯片上,利用TSV进行互连,设计出一种新颖的三维结构的测试外壳扫描链,同时在功耗和引脚限制下对IP核进行测试调度。实验结...
提出了一种在引脚和功耗限制下3D SoCs的绑定前测试方法。对IP核细粒度划分,将每个IP核的触发器数均衡分布到各层芯片上,利用TSV进行互连,设计出一种新颖的三维结构的测试外壳扫描链,同时在功耗和引脚限制下对IP核进行测试调度。实验结果表明,该方法使得芯片的测试时间获得大幅度降低的同时对功耗的需求很小。
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关键词
三维
片上系统
三维扫描链设计
测试调度
测试时间
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职称材料
题名
一种三维SoCs绑定前的测试时间优化方法
被引量：
12
1
作者
欧阳一鸣
刘蓓
梁华国
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2011年第2期164-169,共6页
基金
国家自然科学基金(编号:60876028)资助项目
国家自然科学基金重点项目(编号:60633060)资助项目
+1 种基金
安徽省自然科学基金(编号:090412034)资助项目
安徽高校省级自然科学研究重点项目(编号:KJ2010A269)资助项目
文摘
提出了一种在引脚和功耗限制下3D SoCs的绑定前测试方法。对IP核细粒度划分,将每个IP核的触发器数均衡分布到各层芯片上,利用TSV进行互连,设计出一种新颖的三维结构的测试外壳扫描链,同时在功耗和引脚限制下对IP核进行测试调度。实验结果表明,该方法使得芯片的测试时间获得大幅度降低的同时对功耗的需求很小。
关键词
三维
片上系统
三维扫描链设计
测试调度
测试时间
Keywords
3D SoCs
3D scan chain design
test scheduling
test time
分类号
TP302 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种三维SoCs绑定前的测试时间优化方法
欧阳一鸣
刘蓓
梁华国
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2011
12
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