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基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法
被引量：
1
1
作者
刘军
吴玺
+2 位作者
裴颂伟
王伟
陈田
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期454-459,共6页
为减少三维芯核绑定前和绑定后的测试时间,降低测试成本,提出了基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法.所提方法首先通过最大化每条测试外壳扫描链的跨度,使得绑定前高层电路和低层电路的测试外壳扫描链数量尽可能相等.然后...
为减少三维芯核绑定前和绑定后的测试时间,降低测试成本,提出了基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法.所提方法首先通过最大化每条测试外壳扫描链的跨度,使得绑定前高层电路和低层电路的测试外壳扫描链数量尽可能相等.然后,在TSVs(Through Silicon Vias)数量的约束下,逐层的将虚拟层中的扫描元素分配到测试外壳扫描链中,以平衡绑定前后各条测试外壳扫描链的长度.实验结果表明,所提方法有效地减少了三维芯核绑定前后测试的总时间和硬件开销.
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关键词
三维嵌入式芯核
测试外壳扫描链
跨度
虚拟层
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职称材料
题名
基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法
被引量：
1
1
作者
刘军
吴玺
裴颂伟
王伟
陈田
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室
北京化工大学信息科学与技术学院
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期454-459,共6页
基金
国家自然科学基金(No.61306049
No.61106037
+3 种基金
No.61204046)
国家高技术研究发展计划(863计划)课题(No.2012AA011103)
安徽省自然科学基金(No.1208085QF127)
计算机体系结构国家重点实验室开放课题(No.CARCH201101)
文摘
为减少三维芯核绑定前和绑定后的测试时间,降低测试成本,提出了基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法.所提方法首先通过最大化每条测试外壳扫描链的跨度,使得绑定前高层电路和低层电路的测试外壳扫描链数量尽可能相等.然后,在TSVs(Through Silicon Vias)数量的约束下,逐层的将虚拟层中的扫描元素分配到测试外壳扫描链中,以平衡绑定前后各条测试外壳扫描链的长度.实验结果表明,所提方法有效地减少了三维芯核绑定前后测试的总时间和硬件开销.
关键词
三维嵌入式芯核
测试外壳扫描链
跨度
虚拟层
Keywords
three dimensional embedded cores
wrapper scan chains
span
virtual layers
分类号
TP306.2 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法
刘军
吴玺
裴颂伟
王伟
陈田
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015
1
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