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基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计
被引量：
3
1
作者
侯晓宇
郭贺
常艳昭
《现代电子技术》
北大核心
2024年第4期39-42,共4页
由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板...
由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板卡,结合MSCAN和Checkerboard算法实现了对被测芯片激励信号的施加;然后,设计一个12工位的驱动板卡,实现了在三温条件下的多芯片同步测试;接着,设计一个基于Qt的上位机软件,实现了对测试结果的实时显示与存储;最后,对2 GB大容量FLASH存储器进行测试验证。测试结果表明,与传统的ATE测试相比,基于驱动板和工位板的测试系统可实现对大容量FLASH的全地址功能的高低温测试,且工位板具有的高可扩展性可实现多芯片的同步测试,大幅提高了测试效率。
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关键词
FPGA
FLASH存储器
三温测试
自动化
测试
设备
MSCAN
多工位
测试
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职称材料
题名
基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计
被引量：
3
1
作者
侯晓宇
郭贺
常艳昭
机构
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出处
《现代电子技术》
北大核心
2024年第4期39-42,共4页
文摘
由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板卡,结合MSCAN和Checkerboard算法实现了对被测芯片激励信号的施加;然后,设计一个12工位的驱动板卡,实现了在三温条件下的多芯片同步测试;接着,设计一个基于Qt的上位机软件,实现了对测试结果的实时显示与存储;最后,对2 GB大容量FLASH存储器进行测试验证。测试结果表明,与传统的ATE测试相比,基于驱动板和工位板的测试系统可实现对大容量FLASH的全地址功能的高低温测试,且工位板具有的高可扩展性可实现多芯片的同步测试,大幅提高了测试效率。
关键词
FPGA
FLASH存储器
三温测试
自动化
测试
设备
MSCAN
多工位
测试
Keywords
FPGA
FLASH memory
three-temperature test
automated test equipment
MSCAN
multi-site test
分类号
TN307-34 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计
侯晓宇
郭贺
常艳昭
《现代电子技术》
北大核心
2024
3
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