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三氧化钨晶化薄膜的制备及微观结构研究
1
作者
白海会
杨学恒
《天津师范大学学报（自然科学版）》
CAS
北大核心
2009年第2期35-37,共3页
研究了三氧化钨(WO3)晶化薄膜表面分子结构的AFM表征及X射线衍射谱.结果发现,WO3溶胶掺铂薄膜经460℃热处理后晶化,元胞为正六面体,内含1个WO6八面体,氧离子位居6个面心,钨离子处在体心,晶格常数为(0.75±0.05)nm,自然生长面为002面...
研究了三氧化钨(WO3)晶化薄膜表面分子结构的AFM表征及X射线衍射谱.结果发现,WO3溶胶掺铂薄膜经460℃热处理后晶化,元胞为正六面体,内含1个WO6八面体,氧离子位居6个面心,钨离子处在体心,晶格常数为(0.75±0.05)nm,自然生长面为002面,在002面上的元胞中有5个离子,4个氧离子位居四边形的顶点,钨离子处于中心,氧离子的间距为(0.55±0.05)nm.
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关键词
AFM
三氧化钨晶化薄膜
X射线衍射谱
分子结构
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职称材料
三氧化钨薄膜表面分子结构空间形态的AFM研究
2
作者
韩贤武
苏小平
+2 位作者
杨学恒
刘安平
徐艳
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第F11期335-337,共3页
详细介绍了一种高精度原子力显微镜AFM.IPC-208B的结构与性能以及三氧化钨溶胶-凝胶掺铂薄膜和三氧化钨磁控离子溅射掺铂薄膜的制备。利用AFM.IPC-208B研究了2种三氧化钨晶化薄膜表面的分子结构,并对其X射线衍射谱进行了分析。结果发现...
详细介绍了一种高精度原子力显微镜AFM.IPC-208B的结构与性能以及三氧化钨溶胶-凝胶掺铂薄膜和三氧化钨磁控离子溅射掺铂薄膜的制备。利用AFM.IPC-208B研究了2种三氧化钨晶化薄膜表面的分子结构,并对其X射线衍射谱进行了分析。结果发现,磁控溅射三氧化钨掺铂复合薄膜在400℃下晶化,(106)面为其自然生长面,自然生长面上含有3个钨离子,7个氧离子(或2个钨离子,8个氧离子),分别位于4个相连的四边形的顶点,晶格常数为0.35±0.05nm,1.35±0.05nm;三氧化钨溶胶-凝胶掺铂复合薄膜经460℃热处理后晶化,自然生长面为(002)面,在(002)面上有5个离子,4个氧离子位居四边形的顶点,钨离子处于四边形的中心,氧离子间距为0.55±0.05 nm,晶格常数为0.75±0.05nm。同时,原子力显微镜图像所测得各晶格常数得到了X射线衍射谱的验证。
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关键词
AFM
三氧化钨晶化薄膜
X射线衍射谱
分子结构
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职称材料
题名
三氧化钨晶化薄膜的制备及微观结构研究
1
作者
白海会
杨学恒
机构
天津师范大学物理与电子信息学院
重庆大学恒瑞纳米技术中心
出处
《天津师范大学学报（自然科学版）》
CAS
北大核心
2009年第2期35-37,共3页
基金
天津师范大学校青年教育基金项目(52LJ75)
文摘
研究了三氧化钨(WO3)晶化薄膜表面分子结构的AFM表征及X射线衍射谱.结果发现,WO3溶胶掺铂薄膜经460℃热处理后晶化,元胞为正六面体,内含1个WO6八面体,氧离子位居6个面心,钨离子处在体心,晶格常数为(0.75±0.05)nm,自然生长面为002面,在002面上的元胞中有5个离子,4个氧离子位居四边形的顶点,钨离子处于中心,氧离子的间距为(0.55±0.05)nm.
关键词
AFM
三氧化钨晶化薄膜
X射线衍射谱
分子结构
Keywords
AFM
WO3 crystal film
XRD spectrum
molecular structure
分类号
O484.5 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
三氧化钨薄膜表面分子结构空间形态的AFM研究
2
作者
韩贤武
苏小平
杨学恒
刘安平
徐艳
机构
重庆大学机械传动国家重点实验室
重庆大学数理学院
出处
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第F11期335-337,共3页
文摘
详细介绍了一种高精度原子力显微镜AFM.IPC-208B的结构与性能以及三氧化钨溶胶-凝胶掺铂薄膜和三氧化钨磁控离子溅射掺铂薄膜的制备。利用AFM.IPC-208B研究了2种三氧化钨晶化薄膜表面的分子结构,并对其X射线衍射谱进行了分析。结果发现,磁控溅射三氧化钨掺铂复合薄膜在400℃下晶化,(106)面为其自然生长面,自然生长面上含有3个钨离子,7个氧离子(或2个钨离子,8个氧离子),分别位于4个相连的四边形的顶点,晶格常数为0.35±0.05nm,1.35±0.05nm;三氧化钨溶胶-凝胶掺铂复合薄膜经460℃热处理后晶化,自然生长面为(002)面,在(002)面上有5个离子,4个氧离子位居四边形的顶点,钨离子处于四边形的中心,氧离子间距为0.55±0.05 nm,晶格常数为0.75±0.05nm。同时,原子力显微镜图像所测得各晶格常数得到了X射线衍射谱的验证。
关键词
AFM
三氧化钨晶化薄膜
X射线衍射谱
分子结构
Keywords
atomic force microscopy, tungsten trioxide crystal film, XRD spectrum, molecular structure.
分类号
O614.613 [理学—无机化学]
O561.1 [理学—原子与分子物理]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
三氧化钨晶化薄膜的制备及微观结构研究
白海会
杨学恒
《天津师范大学学报（自然科学版）》
CAS
北大核心
2009
0
在线阅读
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职称材料
2
三氧化钨薄膜表面分子结构空间形态的AFM研究
韩贤武
苏小平
杨学恒
刘安平
徐艳
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
0
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职称材料
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