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TFT-LCD表面缺陷检测中一维DFT方法中邻域r的自动选取
被引量：
4
1
作者
张腾达
卢荣胜
党学明
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第21期2895-2901,共7页
在TFT-LCD平板表面缺陷检测中,为了自动获取一维DFT方法中的邻域r,首先将无缺陷的TFT-LCD平板表面图像的每一行经过预处理,再计算其灰度共生矩阵,然后提取灰度共生矩阵的均匀度,最后计算不同r时的均匀度差值。最大差值所对应的r就是最...
在TFT-LCD平板表面缺陷检测中,为了自动获取一维DFT方法中的邻域r,首先将无缺陷的TFT-LCD平板表面图像的每一行经过预处理,再计算其灰度共生矩阵,然后提取灰度共生矩阵的均匀度,最后计算不同r时的均匀度差值。最大差值所对应的r就是最佳邻域。搭建了TFT-LCD平板检测实验系统,实验对不同长度的非整周期、整周期、非整周期补整的图像进行处理。从获取的r可知,在相同环境下,非整周期补整后的r和整周期的r相同。将这一结果应用到实际缺陷检测中,系统可以准确地检测出缺陷。
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关键词
薄膜晶体管-液晶显示器
缺陷检测
灰度共生矩阵
一维离散傅里叶变换
邻域r
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职称材料
题名
TFT-LCD表面缺陷检测中一维DFT方法中邻域r的自动选取
被引量：
4
1
作者
张腾达
卢荣胜
党学明
机构
合肥工业大学
出处
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第21期2895-2901,共7页
基金
国家重大科学仪器设备开发专项资助项目(2013YQ220749)
文摘
在TFT-LCD平板表面缺陷检测中,为了自动获取一维DFT方法中的邻域r,首先将无缺陷的TFT-LCD平板表面图像的每一行经过预处理,再计算其灰度共生矩阵,然后提取灰度共生矩阵的均匀度,最后计算不同r时的均匀度差值。最大差值所对应的r就是最佳邻域。搭建了TFT-LCD平板检测实验系统,实验对不同长度的非整周期、整周期、非整周期补整的图像进行处理。从获取的r可知,在相同环境下,非整周期补整后的r和整周期的r相同。将这一结果应用到实际缺陷检测中,系统可以准确地检测出缺陷。
关键词
薄膜晶体管-液晶显示器
缺陷检测
灰度共生矩阵
一维离散傅里叶变换
邻域r
Keywords
thin film transistor-liquid crystal display
defect detection
gray level co-occurrence matrix
one-dimensional discrete Fourier transform（DFT）
neighbor r
分类号
TP182 [自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]
TN911.73 [电子电信—通信与信息系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
TFT-LCD表面缺陷检测中一维DFT方法中邻域r的自动选取
张腾达
卢荣胜
党学明
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016
4
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职称材料
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