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NH3流量调控Ⅴ/Ⅲ比对HVPE生长GaN薄膜的影响
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作者 潘大力 杨瑞霞 +1 位作者 张嵩 董增印 《半导体技术》 CAS 北大核心 2021年第2期152-157,共6页
氢化物气相外延(HVPE)法具有生长成本低、生长条件温和、生长速率快等优点,被认为是生长高质量GaN单晶衬底的最有潜力的方法。为了优化HVPE生长GaN的条件,通过改变NH3流量调控Ⅴ/Ⅲ比(NH3流量与HCl流量之比)。通过建立简单的生长模型,... 氢化物气相外延(HVPE)法具有生长成本低、生长条件温和、生长速率快等优点,被认为是生长高质量GaN单晶衬底的最有潜力的方法。为了优化HVPE生长GaN的条件,通过改变NH3流量调控Ⅴ/Ⅲ比(NH3流量与HCl流量之比)。通过建立简单的生长模型,对不同Ⅴ/Ⅲ比下GaN薄膜形态变化的机理进行了分析,研究了HVPE生长过程中氮源(Ⅴ族)和镓源(Ⅲ族)不同流量比对结晶质量和表面形貌的影响。实验结果表明,低Ⅴ/Ⅲ比会导致成核密度低,岛状晶胞难以合并;高Ⅴ/Ⅲ比会降低表面Ga原子的迁移率,导致表面高度差异大,结晶质量差。与Ⅴ/Ⅲ比为15.000和28.125相比,Ⅴ/Ⅲ比为21.250时更适合GaN薄膜生长,得到的晶体质量最高。 展开更多
关键词 GAN 氢化物气相外延(HVPE) ⅴ/ⅲ比 NH3流量 形态变化模型
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The influence ofⅤ/Ⅲratio on electron mobility of the InAs_(x)Sb_(1-x)layers grown on GaAs substrate by molecular beam epitaxy
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作者 ZHANG Jing YANG Zhi +3 位作者 ZHENG Li-Ming ZHU Xiao-Juan WANG Ping YANG Lin 《红外与毫米波学报》 北大核心 2025年第1期25-32,共8页
This paper discusses the influence of Sb/In ratio on the transport properties and crystal quality of the 200 nm InAs_(x)Sb_(1-x)thin film.The Sb content of InAs_(x)Sb_(1-x)thin film in all samples was verified by HRXR... This paper discusses the influence of Sb/In ratio on the transport properties and crystal quality of the 200 nm InAs_(x)Sb_(1-x)thin film.The Sb content of InAs_(x)Sb_(1-x)thin film in all samples was verified by HRXRD of the symmetrical 004 reflections and asymmetrical 115 reflections.The calculation results show that the Sb component was 0.6 in the InAs_(x)Sb_(1-x)thin film grown under the conditions of Sb/In ratio of 6 and As/In ratio of 3,which has the highest electron mobility(28560 cm^(2)/V·s)at 300 K.At the same time,the influence ofⅤ/Ⅲratio on the transport properties and crystal quality of Al_(0.2)In_(0.8)Sb/InAs_(x)Sb_(1-x)quantum well heterostructures also has been investigated.As a result,the Al_(0.2)In_(0.8)Sb/InAs_(0.4)Sb_(0.6)quantum well heterostructure with a channel thickness of 30 nm grown under the conditions of Sb/In ratio of 6 and As/In ratio of 3 has a maximum electron mobility of 28300 cm^(2)/V·s and a minimum RMS roughness of 0.68 nm.Through optimizing the growth conditions,our samples have higher electron mobility and smoother surface morphology. 展开更多
关键词 molecular beam epitaxy InAs_(x)Sb_(1-x) ⅴ/ratio high electron mobility
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4H-SiC衬底上生长参数对AlGaN基深紫外多量子阱受激辐射特性的影响
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作者 张睿洁 郭亚楠 +4 位作者 吴涵 刘志彬 闫建昌 李晋闽 王军喜 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第6期894-904,共11页
SiC衬底是制备高性能AlGaN基深紫外激光器的良好候选衬底。采用金属有机化学气相沉积方法在4H-SiC衬底上生长了深紫外AlGaN/AlN多量子阱结构(MQWs),系统研讨了MQWs生长参数对深紫外激光结构自发辐射和受激辐射特性的影响规律。综合分析M... SiC衬底是制备高性能AlGaN基深紫外激光器的良好候选衬底。采用金属有机化学气相沉积方法在4H-SiC衬底上生长了深紫外AlGaN/AlN多量子阱结构(MQWs),系统研讨了MQWs生长参数对深紫外激光结构自发辐射和受激辐射特性的影响规律。综合分析MQWs的表面形貌和发光性能后发现,随着NH_(3)流量增加和生长温度升高,MQWs表面粗糙度降低,内量子效率提升。经优化,MQWs的内量子效率达到74.1%,室温下的激射阈值光功率密度和线宽分别为1.03 MW/cm~2和1.82 nm,发光波长为248.8 nm。这主要归因于高的NH3流量和生长温度抑制了有源区中的碳杂质并入,载流子辐射复合效率和材料增益增加;同时生长速率降低,改善了MQWs结构的表面形貌,降低了界面散射损耗。采用干法刻蚀和湿法腐蚀的复合工艺制备了光滑陡直的谐振腔,激光器的腔面损耗降低,阈值光功率密度和线宽进一步降低至889 kW/cm~2和1.39 nm。 展开更多
关键词 ALGAN SIC 光泵浦激光器 ⅴ/ⅲ比 生长温度
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Ga_(0.51)In_(0.49)P的MOCVD生长特性研究 被引量:1
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作者 缪国庆 朱景义 +2 位作者 李玉琴 洪春荣 元金山 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第1期43-46,共4页
本文报导了用国产常压MOCVD系统生长GaInP材料.研究GaInP的生长特性,用光致发光、扫描电镜、X光双晶衍射对材料进行表征.发现Ⅴ/Ⅲ比对GaInP的光学特性有很大影响.在温度680℃,Ⅴ/Ⅲ比为90的条件下得... 本文报导了用国产常压MOCVD系统生长GaInP材料.研究GaInP的生长特性,用光致发光、扫描电镜、X光双晶衍射对材料进行表征.发现Ⅴ/Ⅲ比对GaInP的光学特性有很大影响.在温度680℃,Ⅴ/Ⅲ比为90的条件下得到Ga(0.51)In(0.49)P外延层的光致发光谱的半高宽为26meV,这是目前报导的最好结果.Ga(0.51)In(0.49)P的本征载流子浓度为1.1×10(15)cm(-3),晶格失配为4×10(-4). 展开更多
关键词 MOCVD GaInP生长 ⅴ/ⅲ比
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