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用于存储器测试的“透明”的可编程BIST方法(英文)
被引量：
2
1
作者
王颖
陈和
《电子测量技术》
2007年第4期5-8,共4页
本文提出了一种用于存储器测试的新方法“透明”的可编程BIST方法。该方法可以覆盖几乎所有的故障模型,并且,由于测试生成算法和数据背景的结合,提供了灵活无约束的数据背景,因而增加了检测非模型化故障的可能性。通过实验评估了本文方...
本文提出了一种用于存储器测试的新方法“透明”的可编程BIST方法。该方法可以覆盖几乎所有的故障模型,并且,由于测试生成算法和数据背景的结合,提供了灵活无约束的数据背景,因而增加了检测非模型化故障的可能性。通过实验评估了本文方法的性能和面积开销。
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关键词
存储器
“透明”的可编程内建自测试
算法
故障模型
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职称材料
FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究
被引量：
1
2
作者
张双悦
李硕
+1 位作者
王红
杨士元
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2014年第5期37-40,共4页
基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求。传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要进行多次组测试来完成整个芯...
基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求。传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要进行多次组测试来完成整个芯片的测试。在现有LUT自测试链结构的基础上,通过合理选择TPG的电路结构及测试配置,能够在相同测试开销下增加TPG部分的故障覆盖率,提高测试效率。
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关键词
现场
可编程
门阵列(FPGA)
查找表(LUT)
内建
自测试
(BIST)
故障覆盖率
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职称材料
题名
用于存储器测试的“透明”的可编程BIST方法(英文)
被引量：
2
1
作者
王颖
陈和
机构
北京理工大学信息工程学院
出处
《电子测量技术》
2007年第4期5-8,共4页
文摘
本文提出了一种用于存储器测试的新方法“透明”的可编程BIST方法。该方法可以覆盖几乎所有的故障模型,并且,由于测试生成算法和数据背景的结合,提供了灵活无约束的数据背景,因而增加了检测非模型化故障的可能性。通过实验评估了本文方法的性能和面积开销。
关键词
存储器
“透明”的可编程内建自测试
算法
故障模型
Keywords
memory
transparent based programmable BIST
algorithms
fault model
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究
被引量：
1
2
作者
张双悦
李硕
王红
杨士元
机构
清华大学自动化系
出处
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2014年第5期37-40,共4页
文摘
基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求。传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要进行多次组测试来完成整个芯片的测试。在现有LUT自测试链结构的基础上,通过合理选择TPG的电路结构及测试配置,能够在相同测试开销下增加TPG部分的故障覆盖率,提高测试效率。
关键词
现场
可编程
门阵列(FPGA)
查找表(LUT)
内建
自测试
(BIST)
故障覆盖率
Keywords
Field programmable gate array（FPGA）
Lookup table（LUT）
Built-in-self test（BIST）
Fault coverage
分类号
TN791 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
用于存储器测试的“透明”的可编程BIST方法(英文)
王颖
陈和
《电子测量技术》
2007
2
在线阅读
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职称材料
2
FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究
张双悦
李硕
王红
杨士元
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2014
1
在线阅读
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职称材料
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