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同位素^(10)B靶的制备
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作者 樊启文 王华 孟波 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第3期550-554,共5页
为准确测量^(10)B(n,α)7Li和^(10)B(n,t2α)的反应截面,需制备质量厚度为50~350μg/cm^(2)的^(10)B靶。本文系统研究了同位素^(10)B靶的制备工艺,确定了“压片-烧结-蒸发”三步法制备^(10)B靶。研究了基片温度对^(10)B膜生长过程、结... 为准确测量^(10)B(n,α)7Li和^(10)B(n,t2α)的反应截面,需制备质量厚度为50~350μg/cm^(2)的^(10)B靶。本文系统研究了同位素^(10)B靶的制备工艺,确定了“压片-烧结-蒸发”三步法制备^(10)B靶。研究了基片温度对^(10)B膜生长过程、结构和膜基结合力的影响,测试和分析了^(10)B靶的不均匀性。结果表明,利用间歇式静电聚焦微调电子轰击法制备同位素^(10)B靶,蒸发速率应低于0.02μg/(cm^(2)·s);灯丝平面与^(10)B柱的最佳距离为10.5~11 mm;生长的^(10)B膜随基片温度的升高而致密并逐步结晶,膜基结合力也更好,最佳基片温度约为300℃。对于尺寸为∅80 mm同位素^(10)B靶的制备,不均匀性可控制在10%以内。已经成功在Ta和Al基片上制备了厚度<350μg/cm^(2)的^(10)B靶用于核物理实验测量。 展开更多
关键词 ^^(10)b 电子轰击 蒸发速率 基片温度
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