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基于45 nm SOI CMOS工艺的10 bit、125 MS/s过零检测Pipeline-SAR ADC设计
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作者 张凯娜 严鹏程 +3 位作者 宋焱 谢毅 郭卓奇 耿莉 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2017年第11期6-10,共5页
基于45nm SOI CMOS工艺,设计了一款两级流水线级联型逐次逼近ADC(Pipeline-SAR ADC).摒弃了传统流水线结构中大功耗级间运算放大器,采用过零比较器和受控电流源完成级间余量放大功能,极大地减小了ADC的功耗.分析了子ADC中比较器失调对AD... 基于45nm SOI CMOS工艺,设计了一款两级流水线级联型逐次逼近ADC(Pipeline-SAR ADC).摒弃了传统流水线结构中大功耗级间运算放大器,采用过零比较器和受控电流源完成级间余量放大功能,极大地减小了ADC的功耗.分析了子ADC中比较器失调对ADC精度的影响,提出了一种具有失调校准的动态比较器,满足了高精度、高速度的要求.此外,在设计逐次逼近结构时,采用共模切换、上极板采样和全定制控制逻辑等技术进一步降低了系统功耗.仿真结果显示,ADC在125 MS/s、奈圭斯特输入频率下,实现了60.46dB的信噪失真比和77.33dB的无杂散动态范围,有效位数为9.75bit,系统总功耗只有1mW.ADC的FoM值仅为9.29fJ/step,较其他工作有很大的提升. 展开更多
关键词 流水线模数转换器 逐次逼近 过零检测 高速动态比较器 低功耗
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